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Single event transient effect of frontside and backside illumination image sensors under proton irradiation
期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2022, 卷号: 71, 期号: 5, 页码: 1-9
作者:
Fu, J (Fu Jing) [1] , [2] , [3]
;
Cai, YL (Cai Yu-Long) [4]
;
Li, YD (Li Yu-Dong) [1] , [2]
;
Feng, J (Feng Jie) [1] , [2]
;
Wen, L (Wen Lin) [1] , [2]
收藏
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2022/06/06
CMOS image sensor
proton irradiation
single event effect
transientbrightspot
Analysis of Dark Signal Degradation Caused by 1 MeV Neutron Irradiation on Backside-Illuminated CMOS Image Sensors
期刊论文
CHINESE JOURNAL OF ELECTRONICS, 2021, 卷号: 30, 期号: 1, 页码: 180-184
作者:
Liu, BK (Liu Bingkai)[ 1,2,3 ]
;
Li, YD (Li Yudong)[ 1,2 ]
;
Wen, L (Wen Lin)[ 1,2 ]
;
Zhou, D (Zhou Dong)[ 1,2 ]
;
Feng, J (Feng Jie)[ 1,2 ]
收藏
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浏览/下载:29/0
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提交时间:2021/05/10
Backside‐
illuminated CMOS image sensors
Dark signal behaviors
Displacement damage effects
Neutron irradiation
A Fast-Response Calorimeter with Dynamic Corrections for Transient Heat Transfer Measurements
期刊论文
APPLIED SCIENCES-BASEL, 2020, 卷号: 10, 期号: 17, 页码: 22
作者:
Zhang SZ(张仕忠)
;
Wang Q(汪球)
;
Li JP(李进平)
;
Zhang XY(张晓源)
;
Chen H(陈宏)
收藏
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浏览/下载:21/0
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提交时间:2020/11/30
calorimeter
shock tunnel
heat transfer measurement
hypersonic
背照式CMOS图像传感器的累积辐射效应研究
学位论文
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2020
作者:
张翔
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浏览/下载:21/0
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提交时间:2020/11/19
背照式CMOS 图像传感器
总剂量效应
位移损伤效应
Fabrication of Ultralow Stress TiO2/SiO(2)Optical Coatings by Plasma Ion-Assisted Deposition
期刊论文
COATINGS, 2020, 卷号: 10, 期号: 8, 页码: 10080720-1-13
作者:
Guo, Chun
;
Kong, Mingdong
收藏
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浏览/下载:51/0
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提交时间:2021/05/11
Stress
Plasma Ion-assisted Deposition
Tio(2)Film
Sio(2)Film
Annealing Treatment
Grotta Reali, the first multilayered mousterian evidences in the Upper Volturno Basin (Rocchetta a Volturno, Molise, Italy)
期刊论文
ARCHAEOLOGICAL AND ANTHROPOLOGICAL SCIENCES, 2020, 卷号: 12, 期号: 3, 页码: 30
作者:
Peretto, Carlo
;
Arzarello, Marta
;
Coltorti, Mauro
;
Bertolini, Marco
;
Cui, Qiao-Yu
收藏
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2020/05/19
Neanderthal behaviour
Lithic technology
Palaeoenvironment
Subsistence
MIS 3
Cave
Southern Italy
Displacement damage effects induced by fast neutron in backside-illuminated CMOS image sensors
期刊论文
JOURNAL OF NUCLEAR SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2020, 卷号: 57, 期号: 9, 页码: 1015-1021
作者:
Zhang, X (Zhang, Xiang)[ 1,2,3 ]
;
Li, YD (Li, Yudong)[ 1,2 ]
;
Wen, L (Wen, Lin)[ 1,2 ]
;
Feng, J (Feng, Jie)[ 1,2 ]
;
Zhou, D (Zhou, Dong)[ 1,2 ]
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浏览/下载:21/0
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提交时间:2020/12/09
14-MeV neutron
neutron irradiation
radiation damage
radiation effect
Study of dark current random telegraph signal in proton-irradiated backside illuminated CMOS image sensors
期刊论文
RESULTS IN PHYSICS, 2020, 卷号: 19, 期号: 12, 页码: 1-7
作者:
Liu, BK (Liu, Bingkai)[ 1,2,3 ]
;
Li, YD (Li, Yudong)[ 1,2 ]
;
Wen, L (Wen, Lin)[ 1,2 ]
;
Zhou, D (Zhou, Dong)[ 1,2 ]
;
Feng, J (Feng, Jie)[ 1,2 ]
收藏
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2021/03/19
Backside illuminated CMOS image sensor
Random telegraph signal
Radiation effects
Proton irradiation
Theoretical calculation
Light Extraction Efficiency Optimization of AlGaN-Based Deep-Ultraviolet Light-Emitting Diodes
期刊论文
Ecs Journal of Solid State Science and Technology, 2020, 卷号: 9, 期号: 4, 页码: 5
作者:
H. Wan,S. J. Zhou,S. Y. Lan and C. Q. Gui
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2021/07/06
Flip chip backside emitting vcsel package
专利
专利号: US20190237931A1, 申请日期: 2019-08-01, 公开日期: 2019-08-01
作者:
PAO, YI-CHING
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2019/12/30
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