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内容类型
期刊论文 [12]
会议论文 [2]
发表日期
2019 [14]
学科主题
天文学 [1]
天文学::星系与宇宙... [1]
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共14条,第1-10条
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发表日期:2019
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Measurement of the cosmic ray proton spectrum from 40 GeV to 100 TeV with the DAMPE satellite
期刊论文
SCIENCE ADVANCES, 2019, 卷号: 5, 期号: 9, 页码: 10
作者:
An, Q.
;
Asfandiyarov, R.
;
Azzarello, P.
;
Bernardini, P.
;
Bi, X. J.
收藏
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浏览/下载:192/0
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提交时间:2019/12/02
Measurement of the cosmic ray proton spectrum from 40 GeV to 100 TeV with the DAMPE satellite
期刊论文
SCIENCE ADVANCES, 2019, 卷号: 5, 期号: 9, 页码: 10
作者:
An, Q.
;
Asfandiyarov, R.
;
Azzarello, P.
;
Bernardini, P.
;
Bi, X. J.
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浏览/下载:24/0
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提交时间:2022/01/19
Evaluation of helium effect on irradiation hardening in F82H, ODS, SIMP and T91 steels by nano-indentation method
期刊论文
FUSION ENGINEERING AND DESIGN, 2019, 卷号: 142, 页码: 6-12
作者:
Li, Bingsheng
;
Wang, Zhiguang
;
Wei, Kongfang
;
Shen, Tielong
;
Yao, Cunfeng
收藏
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浏览/下载:65/0
  |  
提交时间:2019/11/10
Irradiation hardening
Dual-beam Ion irradiation
Structural materials
Ferritic/martensitic steels
Heavy-Ion Induced Single Event Upsets in Advanced 65 nm Radiation Hardened FPGAs
期刊论文
ELECTRONICS, 2019, 卷号: 8, 期号: 3, 页码: 13
作者:
Ke, Lingyun
;
Zhao, Peixiong
;
Liu, Jie
;
Fan, Xue
;
Cai, Chang
收藏
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浏览/下载:108/0
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提交时间:2019/11/10
FPGA
radiation hardening
single event upsets
heavy ions
error rates
A Double-Node-Upset Self-Recoverable Latch Design for High Performance and Low Power Application
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS II-EXPRESS BRIEFS, 2019, 卷号: Vol.66 No.2, 页码: 287-291
作者:
Fang, Xiangsheng
;
Zhang, Jiliang
;
Cui, Jie
;
Huang, Zhengfeng
;
Yang, Kang
收藏
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浏览/下载:40/0
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提交时间:2019/04/24
Circuit
reliability
radiation
hardening
soft
error
double-node
upset
single
node
upset
Long-term Multiband Study of High-redshift Blazar S5 0836+71
期刊论文
PUBLICATIONS OF THE ASTRONOMICAL SOCIETY OF THE PACIFIC, 2019, 卷号: 131, 期号: 995, 页码: 12
作者:
Yang, Jianping
;
Yang CY(杨初源)
;
Zhou, Bing
;
Zeng, Wei
收藏
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浏览/下载:31/0
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提交时间:2019/01/21
radiation mechanisms: non-thermal
galaxies: active
gamma-rays: galaxies
A Double-Node-Upset Self-Recoverable Latch Design for High Performance and Low Power Application
期刊论文
IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, 2019, 卷号: Vol.66 No.2, 页码: 287-291
作者:
Aibin Yan
;
Kang Yang
;
Zhengfeng Huang
;
Jiliang Zhang
;
Jie Cui
收藏
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浏览/下载:25/0
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提交时间:2019/12/13
Latches
Radiation hardening (electronics)
Clocks
Feedback loop
Power dissipation
Reliability
Electronic mail
Circuit reliability
radiation hardening
soft error
double-node upset
single node upset
A Double-Node-Upset Self-Recoverable Latch Design for High Performance and Low Power Application
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS II-EXPRESS BRIEFS, 2019, 卷号: Vol.66 No.2, 页码: 287-291
作者:
Yan, AB
;
Yang, K
;
Huang, ZF
;
Zhang, JL
;
Cui, J
收藏
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浏览/下载:16/0
  |  
提交时间:2019/12/17
Circuit reliability
radiation hardening
soft error
double-node upset
single node upset
An Adaptive Single Event Upset (SFU)-Hardened Flip-Flop Design
会议论文
2019 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON ELECTRON DEVICES AND SOLID-STATE CIRCUITS (EDSSC), 2019-01-01
作者:
Zhang, Man
;
Guo, ZhongJie
;
Xu, WanCheng
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2019/12/20
single event upset (SET)
flip-flop
radiation hardening
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