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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 限定条件 专题：湖南大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Characterization of bulk traps and interface states in AlGaN/GaN heterostructure under proton irradiation 期刊论文 Applied Physics Letters, 2018, 卷号: Vol.112 No.23, 页码: 233504 作者:  Xue-Feng Zheng;  Shuai-Shuai Dong;  Peng Ji;  Chong Wang;  Yun-Long He 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2019/12/26 Leakage Current and Low-Frequency Noise Analysis and Reduction in a Suspended SOI Lateral p-i-n Diode 期刊论文 IEEE Transactions on Electron Devices, 2017, 卷号: Vol.64 No.10, 页码: 4252-4259 作者:  Li, GL;  Kilchytska, V;  Andre, N;  Francis, LA;  Zeng, Y 收藏  |  浏览/下载：83/0  |  提交时间：2019/12/31 P-i-n  diodes  Leakage  currents  Annealing  Performance  evaluation  Silicon  Optical  sensors  Silicon-on-insulator  Annealing  characterization  dark  leakage  current  interface  traps  low-frequency  noise  (LFN)  P⁺P⁻N⁺  (p-i-n)  diode  silicon  on  insulator  (SOI)  simulation   Low-Frequency Noise in High-Mobility a-InGaZnO/InSnO Nanowire Composite Thin-Film Transistors 期刊论文 IEEE Electron Device Letters, 2017, 卷号: Vol.38 No.11, 页码: 1540-1542 作者:  Wan, D;  Abliz, A;  Su, M;  Liu, CS;  Jiang, CZ 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/12/31 Indium tin oxide  Thin film transistors  Iron  1/f noise  Electron traps  Logic gates  Fluctuations  Amorphous indium-gallium-zinc-oxide (a-InGaZnO)  indium-tin-oxide (ITO) nanowire (NW)  thin-film transistors (TFTs)  low-frequency noise (LFN)  1/f noise model   Evaluation of Shallow Biogenic Gas Accumulation Conditions and Potential Traps in Dongting Basin 期刊论文 Special Oil & Gas Reservoirs, 2014, 卷号: Vol.21 No.4, 页码: 17-21 作者:  Zhu Wei;  Cao Zijian;  Wang Hongyun;  Jing Baoguo 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/31 shallow biogenic gas  trap evaluation  southern margin of the Huarong uplift  Dongting basin   EFFECT OF GRAIN BOUNDARY ON THE CHARACTERISTICS OF POLY-SI METAL-INSULATOR-SEMICONDUCTOR PHOTODETECTOR 期刊论文 INTERNATIONAL JOURNAL OF MODERN PHYSICS B, 2011, 卷号: Vol.25 No.18, 页码: 2403-2410 作者:  Zhou, YM;  He, YG 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2020/01/05 Photodetector  grain boundary  traps  spectral responsivity