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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Leakage Current and Low-Frequency Noise Analysis and Reduction in a Suspended SOI Lateral p-i-n Diode 期刊论文 IEEE Transactions on Electron Devices, 2017, 卷号: Vol.64 No.10, 页码: 4252-4259 作者:  Li, GL;  Kilchytska, V;  Andre, N;  Francis, LA;  Zeng, Y 收藏  |  浏览/下载：83/0  |  提交时间：2019/12/31 P-i-n  diodes  Leakage  currents  Annealing  Performance  evaluation  Silicon  Optical  sensors  Silicon-on-insulator  Annealing  characterization  dark  leakage  current  interface  traps  low-frequency  noise  (LFN)  P⁺P⁻N⁺  (p-i-n)  diode  silicon  on  insulator  (SOI)  simulation