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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 发表日期：2019     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Heavy-Ion Induced Single Event Upsets in Advanced 65 nm Radiation Hardened FPGAs 期刊论文 ELECTRONICS, 2019, 卷号: 8, 期号: 3, 页码: 13 作者:  Ke, Lingyun;  Zhao, Peixiong;  Liu, Jie;  Fan, Xue;  Cai, Chang 收藏  |  浏览/下载：108/0  |  提交时间：2019/11/10 FPGA  radiation hardening  single event upsets  heavy ions  error rates   A Double-Node-Upset Self-Recoverable Latch Design for High Performance and Low Power Application 期刊论文 IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, 2019, 卷号: Vol.66 No.2, 页码: 287-291 作者:  Aibin Yan;  Kang Yang;  Zhengfeng Huang;  Jiliang Zhang;  Jie Cui 收藏  |  浏览/下载：25/0  |  提交时间：2019/12/13 Latches  Radiation hardening (electronics)  Clocks  Feedback loop  Power dissipation  Reliability  Electronic mail  Circuit reliability  radiation hardening  soft error  double-node upset  single node upset   LOCld65, a Dual-Channel VCSEL Driver ASIC for Detector Front-End Readout 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2019, 卷号: 66, 期号: 7, 页码: 1115-1122 作者:  Zhou, Wei;  Gong, Datao;  Sun, Quan;  Guo, Di;  Huang, Guangming 收藏  |  浏览/下载：44/0  |  提交时间：2019/12/23 Analog integrated circuits  application-specific integrated circuits  high energy physics instrumentation computing  Large Hadron Collider (LHC)  optical transmitters  radiation hardening (electronics)