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	星用纳米MOS器件的总剂量辐射效应与NBTI效应研究学位论文硕士, 北京: 中国科学院大学, 2016 作者: 余德昭收藏 \| 浏览/下载：33/0 \| 提交时间：2016/09/27 MOSFET 辐射效应 NBTI 可靠性
	Reliability characterization of silicon-based germanium waveguide photodetectors 期刊论文光学工程, 2014 Tu, Zhijuan; Zhou, Zhiping; Wang, Xingjun 收藏 \| 浏览/下载：3/0 \| 提交时间：2015/11/13 germanium waveguide photodetector reliability silicon photonics PMOS NBTI DEGRADATION COMPREHENSIVE MODEL DARK-CURRENT PHOTODIODES
	Reliability considerations of high speed Germanium waveguide photodetectors 其他 2014-01-01 Tu, Zhijuan; Zhou, Zhiping; Wang, Xingjun 收藏 \| 浏览/下载：4/0 \| 提交时间：2015/11/13 Germanium waveguide photodetector Reliability Silicon photonics PMOS NBTI DEGRADATION COMPREHENSIVE MODEL DARK-CURRENT PHOTODIODES SILICON
	A Simple Circuit to Investigate Threshold Voltage Variation and Its Application in Monitoring Negative Bias Temperature Instability Degradation 期刊论文日本应用物理学杂志, 2013 Hong, Jie; He, Yandong; Zhang, Ganggang; Zhang, Xing 收藏 \| 浏览/下载：3/0 \| 提交时间：2015/11/13 V-T EXTRACTOR TRANSISTORS
	A Simple circuit to investigate threshold voltage variation and its application in monitoring negative bias temperature instability degradation 其他 2013-01-01 Hong, Jie; He, Yandong; Zhang, Ganggang; Zhang, Xing 收藏 \| 浏览/下载：2/0 \| 提交时间：2017/12/03
	A monitoring circuit for NBTI degradation at 65nm technology node 其他 2013-01-01 He, Yandong; Hong, Jie; Zhang, Ganggang; Han, Lin; Zhang, Xing 收藏 \| 浏览/下载：3/0 \| 提交时间：2015/11/13 DIGITAL CIRCUITS PERFORMANCE IMPACT
	NBTI-aware Dual V-th Assignment for Leakage Reduction and Lifetime Assurance 期刊论文 2010, 2010 Wang Yu; Luo Hong; He Ku; Luo Rong; Yang Huazhong; Xie Yuan 收藏 \| 浏览/下载：8/0
	Temperature-aware NBTI modeling techniques in digital circuits 期刊论文 2010, 2010 Hong Luo; Yu Wang; Rong Luo; Huazhong Yang; Yuan Xie 收藏 \| 浏览/下载：2/0
	NBTI-aware dual V/sub th/ assignment for leakage reduction and lifetime assurance 期刊论文 2010, 2010 Wang Yu; Luo Hong; He Ku; Luo Rong; Yang Huazhong; Xie Yuan 收藏 \| 浏览/下载：2/0
	Anomalous negative bias temperature instability degradation induced by source/drain bias in nanoscale PMOS devices 期刊论文 ieee 纳米技术汇刊, 2008 Yan, Baoguang; Yang, Jingfeng; Xia, Zhiliang; Liu, Xiaoyan; Du, Gang; Han, Ruqi; Kang, Jinfeng; Liao, C. C.; Gan, Zhenghao; Liao, Miao; Wang, J. P.; Wong, Waisum 收藏 \| 浏览/下载：3/0 \| 提交时间：2015/11/10 energetic hole interfacial dissociation of Si-H bonds negative bias temperature instability (NBTI) source/drain (S/D) bias TRAP GENERATION INTERFACE MODEL

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