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Verification of SEU resistance in 65 nm high-performance SRAM with dual DICE interleaving and EDAC mitigation strategies 期刊论文
NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2021, 卷号: 32, 期号: 12, 页码: 13
作者:  He, Ze;  Zhao, Shi-Wei;  Liu, Tian-Qi;  Cai, Chang;  Yan, Xiao-Yu
收藏  |  浏览/下载：68/0  |  提交时间：2022/01/12
Impacts of carbon ions on SEU in SOI SRAM 期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2021, 卷号: 126, 页码: 6
作者:  Gao, J.;  Zhang, Q.;  Xi, K.;  Li, B.;  Wang, C.
收藏  |  浏览/下载：25/0  |  提交时间：2022/01/24
SEE  SEU  SOI SRAM  C  
SRAM型FPGA的SEU容错技术研究 学位论文
中国科学院光电技术研究所: University of Chinese Academy of Sciences, 2021
作者:  钟敏
收藏  |  浏览/下载：60/0  |  提交时间：2021/06/28
SRAM型FPGA在辐照环境下的容错技术研究 学位论文
中国科学院大学光电技术研究所: 中国科学院大学, 2019
作者:  薛晓良
收藏  |  浏览/下载：30/0  |  提交时间：2019/06/26
FPGA在辐照环境下的故障注入系统研究 期刊论文
光电工程, 2019, 卷号: 46, 期号: 12, 页码: 21-27
作者:  薛晓良[1,2];  苏海冰[1];  舒怀亮[1];  郭帅[1];  吴威[1]
收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2021/05/06
The Increased Single-Event Upset Sensitivity of 65-nm DICE SRAM Induced by Total Ionizing Dose 会议论文
Geneva, SWITZERLAND, OCT 02-06, 2017
作者:  Zheng, Qiwen;  Cui, Jiangwei;  Lu, Wu;  Guo, Hongxia;  Liu, Jie
收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2018/10/08
The Impacts of Heavy Ion Energy on Single Event Upsets in SOI SRAMs 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2018, 卷号: 65, 页码: 1091-1100
作者:  Gu, Song;  Liu, Jie;  Bi, Jinshun;  Zhao, Fazhan;  Zhang, Zhangang
收藏  |  浏览/下载：23/0  |  提交时间：2018/07/16
基于空间成像应用的 SRAM 型 FPGA 抗单粒子翻转技术研究 学位论文
北京: 中国科学院大学, 2018
作者:  王佳丽
收藏  |  浏览/下载：29/0  |  提交时间：2018/06/12
The Increased Single-Event Upset Sensitivity of 65-nm DICE SRAM Induced by Total Ionizing Dose 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2018, 卷号: 65, 期号: 8, 页码: 1920-1927
作者:  Zheng, QW (Zheng, Qiwen)[ 1 ];  Cui, JW (Cui, Jiangwei)[ 1 ];  Lu, W (Lu, Wu)[ 1 ];  Guo, HX (Guo, Hongxia)[ 1 ];  Liu, J (Liu, Jie)[ 2 ]
收藏  |  浏览/下载：53/0  |  提交时间：2018/09/27
面向SoPC的多级故障恢复方法设计与应用 学位论文
2018
作者:  时凯伦
收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/11/26

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