QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共13条，第1-10条 帮助 限定条件 学科主题：光学薄膜     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Influences of CO2 laser annealing on mechanical and laser-induced damage properties of ZrO2 thin films 期刊论文 optik, 2008, 卷号: 119, 期号: 13, 页码: 624, 629 Wei Chaoyang; 邓德刚; Tian Guanglei; 贺洪波; 邵建达; 范正修 收藏  |  浏览/下载：658/134  |  提交时间：2009/09/22 CO2 laser annealing  Weak absorption  Laser-induced damage threshold  Residual stress   退火对HfO2/SiO2多层膜残余应力的影响 期刊论文 Chin. Opt. Lett., 2008, 卷号: 6, 期号: 3, 页码: 225, 227 申雁鸣; 韩朝霞; 邵建达; 邵淑英; 贺洪波 收藏  |  浏览/下载：1250/170  |  提交时间：2009/09/22 退火  Annealing effects  HfO2/SiO2多层膜  Electron beam evaporation  残余应力   Y2O3 stabilized ZrO2 thin films deposited by electron-beam evaporation: Optical properties, structure and residual stresses 期刊论文 vacuum, 2008, 卷号: 83, 期号: 2, 页码: 366, 371 Xiao Qi-Ling; Xu Cheng; 邵淑英; 邵建达; 范正修 收藏  |  浏览/下载：640/164  |  提交时间：2009/09/22 YSZ thin films  Residual stress  Electron-beam evaporation  Refractive index  Structural properties   薄膜厚度对HfO2薄膜残余应力的影响 期刊论文 稀有金属材料与工程, 2007, 卷号: 36, 期号: 3, 页码: 412, 415 申雁鸣; 贺洪波; 邵淑英; 范正修; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：1100/176  |  提交时间：2009/09/22 HfO2薄膜  HfO2 thin film  残余应力  residual stress  膜厚  thin film thickness  电子束蒸发  electron beam evaporation   沉积温度对LaF3薄膜性能的影响 期刊论文 强激光与粒子束, 2007, 卷号: 19, 期号: 9, 页码: 1507, 1511 余华; 崔云; 申雁鸣; 齐红基; 邵建达; 范正修 收藏  |  浏览/下载：1094/222  |  提交时间：2009/09/22 Crystal structure  Deposition  Grain size and shape  Interferometers  Lanthanum compounds  Refractive index  Residual stresses  Spectrophotometers  Temperature  X ray diffraction   沉积温度对电子束蒸发HfO2薄膜残余应力的影响 期刊论文 中国激光, 2006, 卷号: 33, 期号: 6, 页码: 827, 831 申雁鸣; 贺洪波; 邵淑英; 范正修 收藏  |  浏览/下载：725/114  |  提交时间：2009/09/22 薄膜  HfO2薄膜  残余应力  沉积温度  基底  电子束蒸发   Study of thermal behaviors in CO2 laser irradiated glass 期刊论文 opt. eng., 2005, 卷号: 44, 期号: 4, 页码: 44202 Wei CY; 贺洪波; Deng Z; 邵建达; 范正修 收藏  |  浏览/下载：606/121  |  提交时间：2009/09/22 laser induced damage  temperature field  stress   沉积温度对HfO2薄膜残余应力的影响 期刊论文 强激光与粒子束, 2005, 卷号: 17, 期号: 12, 页码: 1812, 1816 申雁鸣; 贺洪波; 邵淑英; 范正修; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：564/107  |  提交时间：2009/09/22 HfO2薄膜  HfO2 films  残余应力  Residual stress  沉积温度  Deposition temperature  微结构  Microstructure  X射线衍射  XRD   氧分压对电子束蒸发SiO2薄膜机械性质和光学性质的影响 期刊论文 光子学报, 2005, 卷号: 34, 期号: 5, 页码: 742, 745 邵淑英; 范正修; 邵建达; 沈卫星; 江敏华 收藏  |  浏览/下载：688/105  |  提交时间：2009/09/22 SiO2薄膜  SiO_2 films  氧分压  Oxygen partial pressure  残余应力  Residual stress  表面形貌  Surface morphology  折射率  Refractive index  电子束蒸发  Electron beam evaporation   薄膜应力研究 期刊论文 激光与光电子学进展, 2005, 卷号: 42, 期号: 1, 页码: 22, 27 邵淑英; 范正修; 范瑞瑛; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：866/151  |  提交时间：2009/09/22 薄膜应力  thin films  研究  stress  新进展