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Nitrogen defects and ferromagnetism in Cr-doped dilute magnetic semiconductor AlN from first principles 期刊论文
physical review b, 2008, 卷号: 78, 期号: 19, 页码: art. no. 195206
Shi LJ; Zhu LF; Zhao YH; Liu BG
收藏  |  浏览/下载：217/56  |  提交时间：2010/03/08
A fully three-dimensional atomistic quantum mechanical study on random dopant-induced effects in 25-nm MOSFETs 期刊论文
ieee transactions on electron devices, 2008, 卷号: 55, 期号: 7, 页码: 1720-1726
Jiang, XW; Deng, HX; Luo, JW; Li, SS; Wang, LW
收藏  |  浏览/下载：153/1  |  提交时间：2010/03/08
Quantum mechanical effects in nanometer field effect transistors 期刊论文
applied physics letters, 2007, 卷号: 90, 期号: 14, 页码: art.no.143108
Luo, JW (Luo, Jun-Wei); Li, SS (Li, Shu-Shen); Xia, JB (Xia, Jian-Bai); Wang, LW (Wang, Lin-Wang)
收藏  |  浏览/下载：138/0  |  提交时间：2010/03/29
Magnetic properties of tin-doped magnetite nanoparticles 期刊论文
physics letters a, 2006, 卷号: 359, 期号: 1, 页码: 66-69
Lu YW (Lu Yan-Wu); Zhu QS (Zhu Qin-Sheng); Liu FX (Liu Fang-Xin)
收藏  |  浏览/下载：27/0  |  提交时间：2010/04/11
Electronic structure of ZnO wurtzite quantum wires 期刊论文
european physical journal b, 2006, 卷号: 49, 期号: 4, 页码: 415-420
Xia JB (Xia J. B.); Zhanga XW (Zhang X. W.)
收藏  |  浏览/下载：26/0  |  提交时间：2010/04/11
The microstructure and its high-temperature annealing behaviours of a-Si : O : H film 期刊论文
acta physica sinica, 2001, 卷号: 50, 期号: 12, 页码: 2418-2422
Wang YQ; Chen CY; Chen WD; Yang FH; Diao HW
收藏  |  浏览/下载：82/6  |  提交时间：2010/08/12
Correlated structural and optical investigation of terbium-doped zinc oxide nanocrystals 期刊论文
physics letters a, 2000, 卷号: 271, 期号: 1-2, 页码: 128-133
作者:  Liu SM
收藏  |  浏览/下载：46/0  |  提交时间：2010/08/12
High-frequency ferromagnetic resonance on ultrafine cobalt particles 期刊论文
physical review b, 1999, 卷号: 59, 期号: 6, 页码: r3934-r3937
Respaud M; Goiran M; Broto JM; Yang FH; Ould-Ely T; Amiens C; Chaudret B
收藏  |  浏览/下载：39/0  |  提交时间：2010/08/12
Observation of defects in GaN epilayers 期刊论文
defect recognition and image processing in semiconductors 1997, 1998, 卷号: 160, 期号: 0, 页码: 347-350
Kang JY; Liu XL; Ogawa T
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Observation of defects in GaN epilayers 会议论文
7th international conference on defect recognition and image processing in semiconductors (drip-vii), templin, germany, sep 07-10, 1997
Kang JY; Liu XL; Ogawa T
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