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科研机构
微电子研究所 [10]
内容类型
会议论文 [10]
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2018 [3]
2017 [3]
2016 [4]
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内容类型:会议论文
专题:微电子研究所
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Constant voltage stress characterization of nFinFET transistor during total ionizing dose experiment
会议论文
作者:
Li BH(李彬鸿)
;
Huang Y(黄杨)
;
J.Wu
;
Huang YB(黄云波)
;
Li B(李博)
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浏览/下载:36/0
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提交时间:2019/05/13
High Power-Density 3D Integrated Power Supply Module Based on Panel-Level PCB Embedded Technology
会议论文
作者:
Tingyu Lin
;
Hou FZ(侯峰泽)
;
Guo XP(郭学平)
;
Wang QD(王启东)
;
Wenbo Wang
收藏
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2019/05/15
Conducted immunity of Bandgap in SOI technology after electrical stress aging
会议论文
作者:
J.Wu
;
H.Zhang
;
H.Wang
;
L.Zheng
;
B.Li
收藏
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浏览/下载:23/0
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提交时间:2019/05/13
BEOL Based RRAM with One Extra-mask for Low Cost, Highly Reliable Embedded Application in 28 nm Node and Beyond
会议论文
作者:
Lv HB(吕杭炳)
;
Xu XX(许晓欣)
;
Yuan P(袁鹏)
;
Dong DN(董大年)
;
Gong TC(龚天成)
收藏
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浏览/下载:26/0
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提交时间:2018/07/26
FinFETs on Insulator with Silicided Source/Drain
会议论文
作者:
Zhu HL(朱慧珑)
;
Zhao C(赵超)
;
Yin HX(殷华湘)
;
Zhong HC(钟汇才)
;
Zhang QZ(张青竹)
收藏
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浏览/下载:14/0
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提交时间:2018/07/26
Single-Event-Effects Induced by Heavy Ion and Pulsed Laser on 16Mb Magneto-resistive Random Access Memory
会议论文
作者:
Zhang HH(张浩浩)
;
Bi JS(毕津顺)
;
Xi K(习凯)
;
Li J(李金)
;
Ji LL(季兰龙)
收藏
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2018/07/26
FOI FinFET with Ultra-low Parasitic Resistance Enabled by Fully Metallic Source and Drain Formation on Isolated Bulk-Fin
会议论文
作者:
Wu ZH(吴振华)
;
Luo J(罗军)
;
Meng LK(孟令款)
;
Zhang QZ(张青竹)
;
Li YD(李昱东)
收藏
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浏览/下载:32/0
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提交时间:2017/05/19
Study Of RBSOA Reliability Of Nanoscale Partially Narrow Mesa IGBT (PNM-IGBT)
会议论文
作者:
Lu J(陆江)
;
Liu HN(刘海南)
;
Luo JJ(罗家俊)
;
Wang LX(王立新)
;
Zhang GH(张国欢)
收藏
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2017/05/19
Improved Single-Event Hardness of Trench Power MOSFET with a Widened Split Gate
会议论文
作者:
Wang LX(王立新)
;
Han ZS(韩郑生)
;
Zhang GH(张国欢)
;
Li BH(李彬鸿)
;
Li B(李博)
收藏
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2017/05/19
A 1V, 1.1mW mixed-signal hearing aid SoC in 0.13um CMOS process
会议论文
作者:
Chen CY(陈铖颖)
;
Zhang F(张锋)
;
Chen LM(陈黎明)
;
Fan J(范军)
;
Yu ZH(于增辉)
收藏
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2017/05/18
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