Study Of RBSOA Reliability Of Nanoscale Partially Narrow Mesa IGBT (PNM-IGBT) | |
Lu J(陆江); Liu HN(刘海南); Luo JJ(罗家俊); Wang LX(王立新); Zhang GH(张国欢); Han ZS(韩郑生) | |
2016-10-28 | |
文献子类 | 会议论文 |
内容类型 | 会议论文 |
源URL | [http://159.226.55.106/handle/172511/16323] |
专题 | 微电子研究所_硅器件与集成研发中心 |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Lu J,Liu HN,Luo JJ,et al. Study Of RBSOA Reliability Of Nanoscale Partially Narrow Mesa IGBT (PNM-IGBT)[C]. 见:. |
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