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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 限定条件 专题：光电技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Photocarrier Radiometry Characterization of Ultra-shallow Junctions (USJ) in Silicon with Excimer Laser Irradiation 期刊论文 INTERNATIONAL JOURNAL OF THERMOPHYSICS, 2015, 卷号: 36, 期号: 5-6, 页码: 1173-1180 作者:  Wang, Qian;  Li, Bincheng;  Ren, Shengdong;  Wang, Qiang 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2015/09/21 Ion implantation  Laser irradiation  Photocarrier radiometry  Silicon  Ultra-shallow junction   Photocarrier Radiometry Characterization of Ultra-shallow Junctions (USJ) in Silicon with Excimer Laser Irradiation 期刊论文 International Journal of Thermophysics, 2015, 卷号: 36, 期号: 5-6, 页码: 1173-1180 作者:  Wang, Qian;  Li, Bincheng;  Ren, Shengdong;  Wang, Qiang 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2016/11/21 Investigation of laser-induced damage threshold of hafnia/silica high reflectors at 1064 nm 会议论文 Proceedings of SPIE: Pacific Rim Laser Damage 2011: Optical Materials for High Power Lasers, 2012 作者:  Ai, Wanjun;  Xiong, Shengming 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2016/11/25 Characterization of hafnia thin films made with different deposition technologies 会议论文 Proc. of SPIE, 2011 作者:  Wanjun Ai;  Shengming Xiong 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2016/11/25 Photocarrier radiometric and ellipsometric characterization of ion-implanted silicon wafers 期刊论文 JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2008, 卷号: 103, 期号: 12 作者:  Liu, Xianming;  Li, Bincheng;  Zhang, Xiren 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2015/09/21