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Dual Effects of Nanostructuring and Oxygen Vacancy on Photoelectrochemical Water Oxidation Activity of Superstructured and Defective Hematite Nanorods
期刊论文
Small, 2018, 卷号: 14, 期号: 14, 页码: 1704464(1-8)
作者:
Wang L(王蕾)
;
Bi YP(毕迎普)
;
Bi YP(毕迎普)
;
Yang, Yang
;
Shen ZQ(沈志强)
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浏览/下载:30/0
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提交时间:2018/06/01
Defects Engineering
Enhanced Light Absorption
Hematite
Nanorods
Water Splitting
The impact of Deposition Rate and Hydrophobicity of Passivation Layer on The Stability of Back-Channel-Etch Amorphous InGaZnO Thin-Film Transistors
期刊论文
SID Symposium Digest of Technical Papers, 2018, 卷号: Vol.49 No.1, 页码: 1239-1241
作者:
GongTan Li
;
Wei Wu
;
ShiMin Ge
;
Shan Li
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/12/26
Nb Doped TiO2 Protected Back-Channel-Etched Amorphous InGaZnO Thin Film Transistors
期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2017
Zhang, Letao
;
Zhou, Xiaoliang
;
Yang, Huan
;
He, Hongyu
;
Wang, Longyan
;
Zhang, Min
;
Zhang, Shengdong
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2017/12/03
Amorphous indium gallium zinc oxide (a-IGZO)
thin film transistors (TFTs)
back-channel-etch (BCE) process
Nb doped TiO2
THRESHOLD VOLTAGE
CARBON-NANOFILM
BARRIER LAYER
PERFORMANCE
SHIFT
A Back-Channel-Etched Amorphous InGaZnO Thin-Film Transistor Technology With Al-Doped ZnO as Source/Drain and Pixel Electrodes
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2016
Deng, Wei
;
Xiao, Xiang
;
Shao, Yang
;
Song, Zhen
;
Lee, Chia-Yu
;
Lien, Alan
;
Zhang, Shengdong
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2017/12/03
Aluminum-doped ZnO (AZO)
amorphous indium-gallium-zinc oxide (a-IGZO)
back-channel-etch (BCE)
pixel electrode (PE)
thin-film transistor (TFT)
wet etch
THRESHOLD VOLTAGE
PERFORMANCE
DAMAGE
LAYER
TFTS
SIO2
Investigation into sand mura effects of a-IGZO TFT LCDs
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2016
Liu, Xiang
;
Hu, Hehe
;
Ning, Ce
;
Shang, Guangliang
;
Yang, Wei
;
Wang, Ke
;
Lu, Xinhong
;
Lee, Woobong
;
Wang, Gang
;
Xue, Jianshe
;
Jun, Jung Mok
;
Zhang, Shengdong
收藏
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2017/12/03
a-IGZO TFTs
LCD reliability test
Sand mura
Threshold voltage shift
Positive
Thermal gate bias stress
THIN-FILM TRANSISTORS
Performance and Stability Improvements of Back-Channel-Etched Amorphous Indium-Gallium-Zinc Thin-Film-Transistors by CF4+O-2 Plasma Treatment
期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2015
Liu, Xiang
;
Wang, Lisa Ling
;
Hu, Hehe
;
Lu, Xinhong
;
Wang, Ke
;
Wang, Gang
;
Zhang, Shengdong
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2017/12/03
a-IGZO TFTs
back-channel-etch (BCE)
plasma treatment
threshold voltage shift
THRESHOLD VOLTAGE
SHIFT
OXIDE
GATE
半导体器件的制造方法
专利
专利号: US8664119, 申请日期: 2014-03-04, 公开日期: 2013-02-07
作者:
孟令款
;
殷华湘
;
徐秋霞
;
陈大鹏
收藏
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2015/05/27
Damage-free back channel wet-etch process in amorphous indium-zinc-oxide thin-film transistors using a carbon-nanofilm barrier layer (EI收录SCI收录)
期刊论文
ACS Applied Materials and Interfaces, 2014, 卷号: 6, 页码: 11318-11325
作者:
Luo, Dongxiang[1,2]
;
Zhao, Mingjie[1,2]
;
Xu, Miao[1,3]
;
Li, Min[1,2]
;
Chen, Zikai[4]
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/04/25
Corrosion resistance
Electric field effects
Indium
Thin film transistors
Zinc
Deep Wet Etching in Hydrofluoric Acid, Nitric Acid, and Acetic Acid of Cavities in a Silicon Wafer
期刊论文
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2013
作者:
Zhou Yifan
;
Chen Sihai
;
Samson Edmond
;
Alain Bosseboeuf
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2015/08/28
Selective nano-emitter fabricated by silver assisted chemical etch-back for multicrystalline solar cells
期刊论文
RSC ADVANCES, 2013, 卷号: 3, 期号: 35, 页码: 15483
Wang, Y
;
Liu, YP
;
Lai, T
;
Liang, HL
;
Li, ZL
;
Mei, ZX
;
Zhang, FM
;
Kuznetsov, A
;
Du, XL
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浏览/下载:14/0
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提交时间:2014/01/17
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