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北京大学 [39]
湖南大学 [1]
内容类型
其他 [40]
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2018 [1]
2017 [1]
2016 [6]
2015 [5]
2014 [2]
2013 [3]
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发表日期升序
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Characteristics and threshold voltage model of GaN-based FinFET with recessed gate
其他
2018-01-01
作者:
Wang, Chong
;
Wang, Xin
;
Zheng, Xue-Feng
;
Wang, Yun
;
He, Yun-Long
收藏
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2019/12/26
AlGaN/GaN
FinFET
recessed
gate
threshold
voltage
Comparative Study on RTN Amplitude in Planar and FinFET Devices
其他
2017-01-01
Zhang, Zexuan
;
Zhang, Zhe
;
Guo, Shaofeng
;
Wang, Runsheng
;
Wang, Xingsheng
;
Cheng, Binjie
;
Asenov, Asen
;
Huang, Ru
收藏
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2017/12/03
Predictive compact modeling of random variations in FinFET technology for 16/14nm node and beyond
其他
2016-01-01
Jiang, Xiaobo
;
Wang, Xingsheng
;
Wang, Runsheng
;
Cheng, Binjie
;
Asenov, Asen
;
Huang, Ru
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Investigation of local heating effect for 14nm Ge pFinFETs based on Monte Carlo method
其他
2016-01-01
Yin, Longxiang
;
Jiang, Hai
;
Shen, Lei
;
Wang, Juncheng
;
Du, Gang
;
Liu, Xiaoyan
收藏
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2017/12/03
A Simple Method to Decompose the Amplitudes of Different Random Variation Sources in FinFET Technology
其他
2016-01-01
Jiang, Xiaobo
;
Wang, Runsheng
;
Huang, Ru
;
Wang, Xingsheng
;
Cheng, Binjie
;
Asenov, Asen
收藏
  |  
浏览/下载:1/0
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提交时间:2017/12/03
LINE-EDGE ROUGHNESS
VARIABILITY
LWR
LER
Ultra-narrow Si Fins with Low LER/LWR for 16/14nm Node Fabricated by 1D Hard Mask Wet Trimming
其他
2016-01-01
Yang, Yuancheng
;
Li, Ming
;
Fan, Jiewen
;
Chen, Gong
;
Zhang, Hao
;
Huang, Ru
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2017/12/03
FinFET
Hard-Mask Wet Trimming (HMWT)
LER/LWR
Capping layer
New Insights into the Near-Threshold Design in Nanoscale FinFET Technology for Sub-0.2V Applications
其他
2016-01-01
Jiang, Xiaobo
;
Guo, Shaofeng
;
Wang, Runsheng
;
Wang, Yuan
;
Wang, Xingsheng
;
Cheng, Binjie
;
Asenov, Asen
;
Huang, Ru
收藏
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2017/12/03
New Approach for Understanding "Random Device Physics" from Channel Percolation Perspectives: Statistical Simulations, Key Factors and Experimental Results
其他
2016-01-01
Zhang, Zhe
;
Zhang, Zexuan
;
Wang, Runsheng
;
Jiang, Xiaobo
;
Guo, Shaofeng
;
Wang, Yangyuan
;
Wang, Xingsheng
;
Cheng, Binjie
;
Asenov, Asen
;
Huang, Ru
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2017/12/03
Simulation of Positive Bias Temperature Instability (PBTI) in high-k FinFET by KMC method
其他
2015-01-01
Li, Yun
;
Wang, Yijiao
;
Jiang, Hai
;
Du, Gang
;
Kang, Jinfeng
;
Liu, Xiaoyan
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2017/12/03
New insights into the design for end-of-life variability of NBTI in scaled high-��/metal-gate Technology for the nano-reliability era
其他
2015-01-01
Ren, Pengpeng
;
Wang, Runsheng
;
Ji, Zhigang
;
Hao, Peng
;
Jiang, Xiaobo
;
Guo, Shaofeng
;
Luo, Mulong
;
Duan, Meng
;
Zhang, Jian F.
;
Wang, Jianping
;
Liu, Jinhua
;
Bu, Weihai
;
Wu, Jingang
;
Wong, Waisum
;
Yu, Shaofeng
;
Wu, Hanming
;
Lee, Shiuh-Wuu
;
Xu, Nuo
;
Huang, Ru
收藏
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2017/12/03
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