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Measurement of Upsilon production in pp collisions at root s = 13TeV (vol 134, 1804.09214, 2018) 其他
2019-01-01
作者:  Aaij, R.;  Adeva, B.;  Adinolfi, M.;  Ajaltouni, Z.;  Akar, S.
收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2019/12/05
Measurement of the CKM angle using B-+/- DK +/- with D -> KS0(+-),(KsK+K-)-K-0 decays (vol 08, 176, 2018) 其他
2018-01-01
作者:  Aaij, R.;  Adeva, B.;  Adinolfi, M.;  Aidala, C. A.;  Ajaltouni, Z.
收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2019/12/05
Measurement of the CKM angle using B-+/- DK +/- with D -> KS0(+-),(KsK+K-)-K-0 decays (vol 08, 176, 2018) 其他
2018-01-01
作者:  Aaij, R.;  Adeva, B.;  Adinolfi, M.;  Aidala, C. A.;  Ajaltouni, Z.
收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/12/05
Monitoring ground surface displacement in the three gorges area, dangxiong-lasha and jiangsu province area 其他
2013-01-01
Singleton, A.; Muller, J.-P.; Zeng, Q.; Zhang, J.; Li, Z.; Larkin, H.; Li, X.; Liu, P.; Kincal, C.; Yan, D.; Liang, C.; Cui, X.; Zhou, X.; Wang, Q.; Gao, S.; Yun, Y.; Xiong, S.; Gong, L.; Jiang, W.; Luo, Y.; He, X.; He, M.
收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2015/11/17
Analytic Model of Endurance Degradation and Its Practical Applications for Operation Scheme Optimization in Metal Oxide Based RRAM 其他
2013-01-01
Huang, P.; Chen, B.; Wang, Y. J.; Zhang, F. F.; Shen, L.; Liu, R.; Zeng, L.; Du, G.; Zhang, X.; Gao, B.; Kang, J. F.; Liu, X. Y.; Wang, X. P.; Weng, B. B.; Tang, Y. Z.; Lo, G-Q.; Kwong, D.L.
收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13
Highly compact 1T-1R architecture (4F2 footprint) involving fully CMOS compatible vertical GAA nano-pillar transistors and oxide-based RRAM cells exhibiting excellent NVM properties and ultra-low power operation 其他
2012-01-01
Wang, X.P.; Fang, Z.; Li, X.; Chen, B.; Gao, B.; Kang, J.F.; Chen, Z.X.; Kamath, A.; Shen, N.S.; Singh, N.; Lo, G.Q.; Kwong, D.L.
收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/17
Improvement of Endurance Degradation for Oxide Based Resistive Switching Memory Devices Correlated With Oxygen Vacancy Accumulation Effect 其他
2012-01-01
Lu, Y.; Chen, B.; Gao, B.; Fang, Z.; Fu, Y. H.; Yang, J. Q.; Liu, L. F.; Liu, X. Y.; Yu, H. Y.; Kang, J. F.
收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2015/11/13
Bias temperature instability of binary oxide based reram 其他
2010-01-01
Fang, Z.; Yu, H.Y.; Liu, W.J.; Pey, K.L.; Li, X.; Wu, L.; Wang, Z.R.; Lo, Patrick G.Q.; Gao, B.; Kang, J.F.
收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13
Oxide-based RRAM: Physical based retention projection 其他
2010-01-01
Gao, B.; Kang, J.F.; Zhang, H.W.; Sun, B.; Chen, B.; Liu, L.F.; Liu, X.Y.; Han, R.Q.; Wang, Y.Y.; Yu, B.; Fang, Z.; Yu, H.Y.; Kwong, D.-L.
收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13
Identification and application of current compliance failure phenomenon in RRAM device 其他
2010-01-01
Gao, B.; Chang, W.Y.; Sun, B.; Zhang, H.W.; Liu, L.F.; Liu, X.Y.; Han, R.Q.; Wu, T.B.; Kang, J.F.
收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13

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