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科研机构
北京大学 [14]
内容类型
其他 [14]
发表日期
2016 [3]
2015 [2]
2014 [1]
2008 [1]
2006 [1]
2005 [2]
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Reliability investigation of high-k/metal gate in nMOSFETs by three-dimensional kinetic Monte-Carlo simulation with multiple trap interactions
其他
2016-01-01
Li, Yun
;
Jiang, Hai
;
Lun, Zhiyuan
;
Wang, Yijiao
;
Huang, Peng
;
Hao, Hao
;
Du, Gang
;
Zhang, Xing
;
Liu, Xiaoyan
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2017/12/03
OXIDE
MODEL
BIAS
DEGRADATION
TECHNOLOGY
DEFECTS
STACKS
NOISE
PBTI
HFO2
Evaulation the Degradation in nMOSFETs with HfO2 Gate Dielectric and Interfacial Layer by 3D Kinetic Monte-Carlo Method
其他
2016-01-01
Li, Yun
;
Lun, Zhiyuan
;
Wang, Yijiao
;
Huang, Peng
;
Jiang, Hai
;
Zhang, Xing
;
Du, Gang
;
Liu, Xiaoyan
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Insight into PBTI in InGaAs Nanowire FETs with Al2O3 and LaAlO3 Gate Dielectrics
其他
2016-01-01
Li, Y.
;
Di, S. Y.
;
Jiang, H.
;
Huang, P.
;
Wang, Y. J.
;
Lun, Z. Y.
;
Shen, L.
;
Yin, L. X.
;
Zhang, X.
;
Du, G.
;
Liu, X. Y.
收藏
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2017/12/03
3D KMC reliability simulation of nano-scaled HKMG nMOSFETs with multiple traps coupling
其他
2015-01-01
Li, Yun
;
Lun, Zhiyuan
;
Huang, Peng
;
Wang, Yijiao
;
Jiang, Hai
;
Du, Gang
;
Liu, Xiaoyan
收藏
  |  
浏览/下载:8/0
  |  
提交时间:2017/12/03
3D KMC Reliability Simulation of Nano-Scaled HKMG nMOSFETs with Multiple Traps Coupling
其他
2015-01-01
Li, Yun
;
Lun, Zhiyuan
;
Huang, Peng
;
Wang, Yijiao
;
Jiang, Hai
;
Du, Gang
;
Liu, Xiaoyan
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2017/12/03
HKMG
nMOSFETs
3D
kinetic Monte-Carlo
multiple traps
coupling
trap generation/recombination
capture time
emission time
threshold voltage shift
trapping
detrapping
PBTI
Simulation of an Diode by Using Globally-Hyperbolically-Closed High-Order Moment Models
其他
2014-01-01
Hu, Zhicheng
;
Li, Ruo
;
Lu, Tiao
;
Wang, Yanli
;
Yao, Wenqi
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2015/11/10
High-order moment equations
Boltzmann transport equation
Extended hydrodynamic models
Semiconductor device simulation
BOLTZMANN-EQUATION
DEVICE SIMULATIONS
MONTE-CARLO
SEMICONDUCTORS
ELECTRONS
Efficient atomistic method simuation on low energy doping and high temperature annealing technology
其他
2008-01-01
Min, Yu
;
Huihui, Ji
;
Li, Yuan
;
Ming, Li
;
Ru, Huang
;
Xing, Zhang
收藏
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2015/11/13
Simulating enhanced diffusion and activation of boron by atomistic model
其他
2006-01-01
Yu, Min
;
Zhang, Xiao
;
Ren, Liming
;
Ji, Huihui
;
Zhan, Kai
;
Huang, Ru
;
Zhang, Xing
;
Wang, Yangyuan
;
Zhang, Jinyu
;
Oka, Hideki
收藏
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2015/11/13
The role of surface annihilation in annealing investigated by atomic model simulation
其他
2005-01-01
Yu, M
;
Zhang, X
;
Huang, R
;
Zhang, X
;
Wang, YY
;
Zhang, JY
;
Oka, H
收藏
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2015/11/13
ION-IMPLANTATION
SILICON
DEFECTS
The role of surface annihilation in annealing investigated by atomic model simulation
其他
2005-01-01
Yu, Min
;
Zhang, Xiao
;
Huang, Ru
;
Zhang, Xing
;
Wang, Yangyuan
;
Zhang, Jinyu
;
Oka, Hideki
收藏
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2015/11/13
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