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Two dimensionalization induced enhancing dielectric anisotropy of titania
期刊论文
JOURNAL OF ALLOYS AND COMPOUNDS, 2020, 卷号: 842, 页码: 7
作者:
Wang, Liang
;
Soh, Ai Kah
;
Liu, Shuangyi
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浏览/下载:100/0
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提交时间:2020/08/24
DFT
Two-dimensional oxide dielectrics
Dielectric property
Energy storage capability
Future electronic devices
Layer dependent direct tunneling behaviors through two dimensional titania nanosheets
期刊论文
COMPUTATIONAL MATERIALS SCIENCE, 2020, 卷号: 173, 页码: 5
作者:
Pu, Yayun
;
Xie, Xiong
;
Wang, Liang
;
Shen, Jun
收藏
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浏览/下载:47/0
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提交时间:2020/08/24
Two dimensional oxides
Titania nanosheet
Electron tunneling
WKB approximation
Charge trapping effect in HfO2-based high-k gate dielectric stacks after heavy ion irradiation: The role of oxygen vacancy
期刊论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2019, 卷号: 459, 页码: 143-147
作者:
Li, Zongzhen
;
Liu, Tianqi
;
Bi, Jinshun
;
Yao, Huijun
;
Zhang, Zhenxing
收藏
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浏览/下载:32/0
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提交时间:2022/01/19
High-k HfO2
Heavy ion irradiation
Reliability
Charge trapping
Oxygen vacancy
Reliable Nonvolatile Memory Black Phosphorus Ferroelectric Field-Effect Transistors with van der Waals Buffer
期刊论文
ACS APPLIED MATERIALS & INTERFACES, 2019, 卷号: 11, 期号: 45, 页码: 42358-42364
作者:
Yan, Shili
;
Huang, Hai
;
Xie, Zhijian
;
Ye, Guojun
;
Li, Xiao-Xi
收藏
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2021/02/02
black phosphorus
P(VDF-TrFE)
nonvolatile ferroelectric memories
field-effect transistors (FETs)
anti-hysteresis
Latent Reliability Degradation of Ultrathin Amorphous HfO2 Dielectric After Heavy Ion Irradiation: The Impact of Nano-Crystallization
期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2019, 卷号: 40, 期号: 10, 页码: 1634-1637
作者:
Li, Zongzhen
;
Liu, Jie
;
Zhai, Pengfei
;
Liu, Tianqi
;
Bi, Jinshun
收藏
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2022/01/19
HfO2
heavy ion irradiation
reliability degradation
crystallization
Structural and electronic phase transitions driven by electric field in metastable MoS2 thin flakes
期刊论文
PHYSICAL REVIEW B, 2019, 卷号: 100, 期号: 2
作者:
Shang, C.
;
Lei, B.
;
Zhuo, W. Z.
;
Zhang, Q.
;
Zhu, C. S.
收藏
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浏览/下载:49/0
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提交时间:2019/12/26
Annealing-induced evolution in interface stability and electrical performance of sputtering-driven rare-earth-based gate oxides
期刊论文
JOURNAL OF ALLOYS AND COMPOUNDS, 2019, 卷号: 778, 期号: 无, 页码: 579-587
作者:
Wang, Die
;
He, Gang
;
Liang, Shuang
;
Liu, Mao
收藏
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浏览/下载:56/0
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提交时间:2020/03/31
Dy2O3 gate dielectrics
High-k
Annealing temperature
Optical properties
Electrical characteristics
Modulating Electrical Performances of In2O3 Nanofiber Channel Thin Film Transistors via Sr Doping
期刊论文
ADVANCED ELECTRONIC MATERIALS, 2019, 卷号: 5, 期号: 3, 页码: 10
作者:
Song, Longfei
;
Luo, Linqu
;
Li, Xuan
;
Liu, Di
;
Han, Ning
收藏
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浏览/下载:81/0
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提交时间:2019/06/14
enhancement mode
high performance
In2O3 nanofiber
inverter
Sr element
Snse2 field-effect transistor with high on/off ratio and polarity-switchable photoconductivity
期刊论文
Nanoscale research letters, 2019, 卷号: 14, 期号: 1
作者:
Xu,Hong
;
Xing,Jie
;
Huang,Yuan
;
Ge,Chen
;
Lu,Jinghao
收藏
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浏览/下载:145/0
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提交时间:2019/05/09
Field-effect transistor
Snse2
Photoconductivity
On/off ratio
Fully Printed Top-Gate Metal-Oxide Thin-Film Transistors Based on Scandium-Zirconium-Oxide Dielectric
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2019, 卷号: 66, 页码: 445-450
作者:
Li, Yuzhi[1]
;
Lan, Linfeng[2]
;
Hu, Shiben[3]
;
Gao, Peixiong[4]
;
Dai, Xingqiang[5]
收藏
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浏览/下载:19/0
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提交时间:2019/04/22
Inkjet printing
scandium zirconium oxide (Sc1Zr1Ox)
thin-film transistors (TFTs)
top gate
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