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Synergistic effect of total ionizing dose on single event effect induced by pulsed laser microbeam on SiGe heterojunction bipolar transistor 期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2018, 卷号: 27, 期号: 10, 页码: 1-10
作者:  Zhang, JX (Zhang, Jin-Xin)[ 1 ];  Guo, HX (Guo, Hong-Xia)[ 2,3 ];  Pan, XY (Pan, Xiao-Yu)[ 3 ];  Guo, Q (Guo, Qi)[ 2 ];  Zhang, FQ (Zhang, Feng-Qi)[ 3 ]
收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2018/11/20
Investigating the TDDB lifetime growth mechanism caused by proton irradiation in partially depleted SOI devices 期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2018, 卷号: 81, 期号: 2, 页码: 112-116
作者:  Ma, T (Ma, Teng);  Yu, XF (Yu, Xuefeng);  Cui, JW (Cui, Jiangwei);  Zheng, QW (Zheng, Qiwen);  Zhou, H (Zhou, Hang)
收藏  |  浏览/下载：55/0  |  提交时间：2018/03/14
SiGe HBT单粒子效应敏感区域分布与加固设计研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2015
作者:  李培
收藏  |  浏览/下载：61/0  |  提交时间：2015/06/15
Single-event response of the SiGe HBT in TCAD simulations and laser microbeam experiment 期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2015, 卷号: 24, 期号: 8
作者:  Li, P (Li Pei);  Guo, HX (Guo Hong-Xia);  Guo, Q (Guo Qi);  Zhang, JX (Zhang Jin-Xin);  Xiao, Y (Xiao Yao)
收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2017/09/14
PNP输入双极运算放大器的辐射效应 期刊论文
原子能科学技术, 2012, 卷号: 46, 期号: 2, 页码: 229-233
作者:  许发月;  陆妩;  王义元;  席善斌;  李明
收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2012/11/29
静态随机存储器总剂量辐射及退火效应研究 期刊论文
原子能科学技术, 2012, 卷号: 46, 期号: 4, 页码: 507-512
作者:  李明;  余学峰;  许发月;  李茂顺;  高博
收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2012/11/29
双极运算放大器ELDRS效应及加速评估方法的研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2011
作者:  许发月
收藏  |  浏览/下载：32/0  |  提交时间：2016/05/24
静态随机存储器总剂量辐射效应及评估技术的研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2010
作者:  李茂顺
收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2016/05/26
电荷耦合器件的~(60)Co γ射线辐照损伤退火效应 期刊论文
原子能科学技术, 2010, 卷号: 44, 期号: 5, 页码: 603-607
作者:  李鹏伟;  郭旗;  任迪远;  于跃;  兰博
收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2012/11/29
Altera SRAM型FPGA器件总剂量辐射损伤及退火效应 期刊论文
强激光与粒子束, 2010, 卷号: 22, 期号: 11, 页码: 2724-2728
作者:  高博;  余学峰;  任迪远;  王义元;  李豫东
收藏  |  浏览/下载：23/0  |  提交时间：2012/11/29

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