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Impact of High TID Irradiation on Stability of 65 nm SRAM Cells
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2022, 卷号: 69, 期号: 5, 页码: 1044-1050
作者:
Cui, JW (Cui, Jiangwei) [1]
;
Zheng, QW (Zheng, Qiwen) [1]
;
Li, YD (Li, Yudong) [1]
;
Guo, Q (Guo, Qi) [1]
收藏
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2022/06/21
SRAM cells
Radiation effects
Arrays
Stability criteria
Circuit stability
Voltage measurement
Logic gates
Stability
static random-access memory (SRAM) cell
total ionizing dose (TID)
Verification of SEU resistance in 65 nm high-performance SRAM with dual DICE interleaving and EDAC mitigation strategies
期刊论文
NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2021, 卷号: 32, 期号: 12, 页码: 13
作者:
He, Ze
;
Zhao, Shi-Wei
;
Liu, Tian-Qi
;
Cai, Chang
;
Yan, Xiao-Yu
收藏
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浏览/下载:66/0
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提交时间:2022/01/12
Double interlocked storage cell (DICE)
Error detection and correction (EDAC) code
Heavy ion
Radiation hardening technology
Single event upset (SEU)
Static random-access memory (SRAM)
Total Ionizing Dose Influence on the Single-Event Multiple-Cell Upsets in 65-nm 6-T SRAM
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2019, 卷号: 66, 期号: 6, 页码: 892-898
作者:
Zheng, Qiwen
;
Cui, Jiangwei
;
Lu, Wu
;
Guo, Hongxia
;
Liu, Jie
收藏
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浏览/下载:74/0
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提交时间:2019/11/10
Single-event multiple-cell upsets (MCUs)
static random access memory
total ionizing dose (TID)
The Increased Single-Event Upset Sensitivity of 65-nm DICE SRAM Induced by Total Ionizing Dose
会议论文
Geneva, SWITZERLAND, OCT 02-06, 2017
作者:
Zheng, Qiwen
;
Cui, Jiangwei
;
Lu, Wu
;
Guo, Hongxia
;
Liu, Jie
收藏
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浏览/下载:38/0
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提交时间:2018/10/08
Charge sharing
single-event upset (SEU)
static random access memory
total ionizing dose (TID)
Read Static Noise Margin Decrease of 65-nm 6-T SRAM Cell Induced by Total Ionizing Dose
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2018, 卷号: 65, 期号: 2, 页码: 691-697
作者:
Zheng, QW (Zheng, Qiwen)
;
Cui, JW (Cui, Jiangwei)
;
Yu, XF (Yu, Xuefeng)
;
Lu, W (Lu, Wu)
;
He, CF (He, Chengfa)
收藏
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浏览/下载:48/0
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提交时间:2018/05/15
Static Noise Margin (Snm)
Static Random Access Memory (Sram)
Total Ionizing Dose (Tid)
The Increased Single-Event Upset Sensitivity of 65-nm DICE SRAM Induced by Total Ionizing Dose
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2018, 卷号: 65, 期号: 8, 页码: 1920-1927
作者:
Zheng, QW (Zheng, Qiwen)[ 1 ]
;
Cui, JW (Cui, Jiangwei)[ 1 ]
;
Lu, W (Lu, Wu)[ 1 ]
;
Guo, HX (Guo, Hongxia)[ 1 ]
;
Liu, J (Liu, Jie)[ 2 ]
收藏
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浏览/下载:53/0
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提交时间:2018/09/27
Charge Sharing
Single-event Upset (Seu)
Static Random Access Memory
Total Ionizing Dose (Tid)
Impact of energy straggle on proton-induced single event upset test in a 65-nm SRAM cell
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2017, 卷号: 26, 页码: 6
作者:
Ye, Bing
;
Liu, Jie
;
Wang, Tie-Shan
;
Liu, Tian-Qi
;
Luo, Jie
收藏
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浏览/下载:19/0
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提交时间:2018/05/31
single event upset
energy straggle
proton irradiation
nanodevice
Direct measurement and analysis of total ionizing dose effect on 130 nm PD SOI SRAM cell static noise margin
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2017, 卷号: 26, 期号: 9, 页码: 1-5
作者:
Zheng, QW (Zheng, Qiwen)
;
Cui, JW (Cui, Jiangwei)
;
Liu, MX (Liu, Mengxin)
;
Su, DD (Su, Dandan)
;
Zhou, H (Zhou, Hang)
收藏
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浏览/下载:38/0
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提交时间:2017/12/05
Silicon-on-insulator
Total Ionizing Dose
Static Random Access Memory
Static Noise Margin
静态随机存储器总剂量辐射损伤机制及试验方法研究
学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2015
作者:
郑齐文
收藏
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浏览/下载:49/0
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提交时间:2015/06/15
大规模集成电路
总剂量辐射
静态随机存储器
损伤机制
试验方法
基于SOI工艺抗辐照嵌入式SRAM关键技术研究
学位论文
工学博士, 中国科学院自动化研究所: 中国科学院大学, 2015
作者:
刘丽
收藏
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浏览/下载:213/0
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提交时间:2015/09/02
绝缘体上硅
KFZ加固
单粒子翻转
静态随机存储器
silcon-on-insulator(SOI)
radiation hardness
sigle event upset(SEU)
static random access memory(SRAM)
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