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Verification of SEU resistance in 65 nm high-performance SRAM with dual DICE interleaving and EDAC mitigation strategies
期刊论文
NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2021, 卷号: 32, 期号: 12, 页码: 13
作者:
He, Ze
;
Zhao, Shi-Wei
;
Liu, Tian-Qi
;
Cai, Chang
;
Yan, Xiao-Yu
收藏
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浏览/下载:65/0
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提交时间:2022/01/12
Double interlocked storage cell (DICE)
Error detection and correction (EDAC) code
Heavy ion
Radiation hardening technology
Single event upset (SEU)
Static random-access memory (SRAM)
Heavy-Ion Induced Single Event Upsets in Advanced 65 nm Radiation Hardened FPGAs
期刊论文
ELECTRONICS, 2019, 卷号: 8, 期号: 3, 页码: 13
作者:
Ke, Lingyun
;
Zhao, Peixiong
;
Liu, Jie
;
Fan, Xue
;
Cai, Chang
收藏
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浏览/下载:108/0
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提交时间:2019/11/10
FPGA
radiation hardening
single event upsets
heavy ions
error rates
Novel Radiation Hardening Read/Write Circuits Using Feedback Connections for Spin-Orbit Torque Magnetic Random Access Memory
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS, 2019, 卷号: 66, 页码: 1853-1862
作者:
Wang, Bi
;
Wang, Zhaohao
;
Wu, Bi
;
Bai, Yumeng
;
Cao, Kaihua
收藏
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浏览/下载:21/0
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提交时间:2019/12/30
SOT-MRAM
radiation hardening techniques
single event upset
double-node upset
particle
reliability
Novel Radiation Hardening Read/Write Circuits Using Feedback Connections for Spin-Orbit Torque Magnetic Random Access Memory
会议论文
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS, 2019-05-01
作者:
Wang, Bi
;
Wang, Zhaohao
;
Wu, Bi
;
Bai, Yumeng
;
Cao, Kaihua
收藏
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2019/12/30
SOT-MRAM
radiation hardening techniques
single event upset
double-node upset
particle
reliability
Radiation Hardening Techniques for SOT-MRAM Peripheral Circuitry
会议论文
2018 IEEE INTERNATIONAL MAGNETIC CONFERENCE (INTERMAG), 2018-01-01
作者:
Wang, B.
;
Wang, Z.
;
Hu, C.
;
Zhao, Y.
;
Zhang, Y.
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
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提交时间:2019/12/30
Radiation-Hardening Techniques for Spin Orbit Torque-MRAM Peripheral Circuitry
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS, 2018, 卷号: 54
作者:
Wang, Bi
;
Wang, Zhaohao
;
Hu, Chunyan
;
Zhao, Yuanfu
;
Zhang, Youguang
收藏
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2019/12/30
Double-node upset (DNU)
peripheral circuitry
radiation hardening by design
single-event upset (SEU)
spin orbit torque magnetic random access memory (SOT-MRAM)
Ion-irradiation-induced hardening in alloys of V-4Cr-4Ti and V-5Cr-5Ti
期刊论文
Nuclear Techniques, 2017, 卷号: 40, 页码: 030203-1-030101-8
作者:
Fan JQ(范嘉琪)
;
Zhang CH(张崇宏)
;
Ma TD(马通达)
;
Yang YT(杨义涛)
;
Yan TX(颜廷星)
收藏
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2018/05/16
An introduction to CPU and DSP design in China
期刊论文
SCIENCE CHINA-INFORMATION SCIENCES, 2016, 卷号: 59, 期号: 1, 页码: 8
作者:
Hu, Weiwu
;
Zhang, Yifu
;
Fu, Jie
收藏
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2019/12/13
Chinese domestic CPUs and DSPs
Loongson CPU
ShenWei CPU
YHFT DSP
BWDSP
基于新型双极测试结构的低剂量率辐照感生缺陷研究
学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2013
作者:
席善斌
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浏览/下载:41/0
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提交时间:2013/05/31
低剂量率辐射损伤增强效应
栅控晶体管
电荷分离
损伤机理
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