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科研机构
北京大学 [3]
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期刊论文 [3]
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2017 [1]
2016 [1]
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Nb Doped TiO2 Protected Back-Channel-Etched Amorphous InGaZnO Thin Film Transistors
期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2017
Zhang, Letao
;
Zhou, Xiaoliang
;
Yang, Huan
;
He, Hongyu
;
Wang, Longyan
;
Zhang, Min
;
Zhang, Shengdong
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2017/12/03
Amorphous indium gallium zinc oxide (a-IGZO)
thin film transistors (TFTs)
back-channel-etch (BCE) process
Nb doped TiO2
THRESHOLD VOLTAGE
CARBON-NANOFILM
BARRIER LAYER
PERFORMANCE
SHIFT
A Back-Channel-Etched Amorphous InGaZnO Thin-Film Transistor Technology With Al-Doped ZnO as Source/Drain and Pixel Electrodes
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2016
Deng, Wei
;
Xiao, Xiang
;
Shao, Yang
;
Song, Zhen
;
Lee, Chia-Yu
;
Lien, Alan
;
Zhang, Shengdong
收藏
  |  
浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Aluminum-doped ZnO (AZO)
amorphous indium-gallium-zinc oxide (a-IGZO)
back-channel-etch (BCE)
pixel electrode (PE)
thin-film transistor (TFT)
wet etch
THRESHOLD VOLTAGE
PERFORMANCE
DAMAGE
LAYER
TFTS
SIO2
Performance and Stability Improvements of Back-Channel-Etched Amorphous Indium-Gallium-Zinc Thin-Film-Transistors by CF4+O-2 Plasma Treatment
期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2015
Liu, Xiang
;
Wang, Lisa Ling
;
Hu, Hehe
;
Lu, Xinhong
;
Wang, Ke
;
Wang, Gang
;
Zhang, Shengdong
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2017/12/03
a-IGZO TFTs
back-channel-etch (BCE)
plasma treatment
threshold voltage shift
THRESHOLD VOLTAGE
SHIFT
OXIDE
GATE
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