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Effect of heavy ion irradiation on the interface traps of AlGaN/GaN high electron mobility transistors
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2022, 卷号: 31, 期号: 3, 页码: 6
作者:
Lin, Zheng-Zhao
;
Lu, Ling
;
Zheng, Xue-Feng
;
Cao, Yan-Rong
;
Hu, Pei-Pei
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浏览/下载:23/0
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提交时间:2022/04/11
gallium nitride
radiation effects
defects
pulse testing
Degradation mechanisms of InGaN/GaN UVA LEDs under swift heavy ion irradiation: role of defects
期刊论文
SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2021, 卷号: 36, 期号: 9, 页码: 7
作者:
Wang, Ying-Zhe
;
Zheng, Xue-Feng
;
Lv, Ling
;
Cao, Yan-Rong
;
Wang, Xiao-Hu
收藏
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浏览/下载:19/0
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提交时间:2021/12/08
UVA LED
swift heavy ion irradiation
degradation
defect
low frequency noise
Analysis of the back-barrier effect in AlGaN/GaN high electron mobility transistor on free-standing GaN substrates
期刊论文
Journal of Alloys and Compounds, 2020, 卷号: 814, 页码: 6
作者:
X. K. Liu, H. Y. Wang, H. C. Chiu, Y. X. Chen, D. B. Li, C. R. Huang, H. L. Kao, H. C. Kuo and S. W. H. Chen
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2021/07/06
Strong interfacial coupling effects of ferroelectric polarization with two-dimensional electron gas in BaTiO3/MgO/AlGaN/GaN/Si heterostructures
期刊论文
JOURNAL OF MATERIALS CHEMISTRY C, 2019, 卷号: 7, 期号: 19, 页码: 5677
作者:
Li, Guanjie
;
Li, Xiaomin
;
Zhao, Junliang
;
Zhu, Qiuxiang
;
Chen, Yongbo
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浏览/下载:42/0
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提交时间:2019/12/26
Switching Transient Analysis for Normally-Off GaN Transistors with p-GaN Gate in a Phase-Leg Circuit
期刊论文
IEEE Transactions on Power Electronics, 2019, 卷号: 34, 页码: 3711-3728
作者:
Xie, Ruiliang
;
Yang, Xu
;
Xu, Guangzhao
;
Wei, Jin
;
Wang, Yuru
收藏
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浏览/下载:28/0
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提交时间:2019/11/19
Analytical approach
GaN HEMTs
Junction capacitances
Physical behaviors
Schottky junctions
Switching transient
Terminal measurements
Threshold-voltage instabilities
Defect evolution of oxygen induced Vth-shift for ON-state biased AlGaN/GaN HEMTs (Open Access)
期刊论文
Applied Physics Letters, 2019, 卷号: 115, 期号: 14
作者:
Wang, Rong
;
Xu, Jianxing
;
Zhang, Shiyong
;
Cheng, Zhe
;
Zhang, Lian
收藏
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2019/12/05
Reactive evaporation of SiOx films for passivation of GaN high-electron-mobility transistors
期刊论文
JOURNAL OF PHYSICS AND CHEMISTRY OF SOLIDS, 2019, 卷号: 129, 页码: 54-60
作者:
Zhu, Gengchang
;
Liang, Guangda
;
Zhou, Yang
;
Chen, Xiufang
;
Xu, Xiangang
收藏
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浏览/下载:23/0
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提交时间:2019/12/11
Reactive evaporation
SiOx
Passivation
GaN
HEMTs
Reduced reverse gate leakage current for GaN HEMTs with 3 nm Al/40 nm SiN passivation layer
期刊论文
APPLIED PHYSICS LETTERS, 2019, 卷号: Vol.114 No.1
作者:
Zhang, Sheng
;
Wei, Ke
;
Ma, Xiao-Hua
;
Hou, Bin
;
Liu, Guo-Guo
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/12/17
Enhancement of Negative Differential Mobility Effect in Recessed Barrier Layer AlGaN/GaN HEMT for Terahertz Applications
期刊论文
IEEE Transactions on Electron Devices, 2019, 卷号: Vol.66 No.3, 页码: 1236-1242
作者:
Hongliang Zhao
;
Lin-An Yang
;
Hao Zou
;
Xiao-hua Ma
;
Yue Hao
收藏
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浏览/下载:35/0
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提交时间:2019/12/17
HEMTs
Wide band gap semiconductors
Aluminum gallium nitride
Logic gates
Oscillators
Mathematical model
Schottky diodes
AlGaN/GaN
electron domain
high-electron mobility transistor (HEMT)
recessed barrier layer (RBL)
terahertz
Effects of Annealing on Enhancement-Mode AlGaN/GaN/AlGaN Double Heterostructures HEMTs with Different GaN Channel Layer Thickness
期刊论文
JOURNAL OF NANOELECTRONICS AND OPTOELECTRONICS, 2019, 卷号: Vol.14 No.2, 页码: 184-188
作者:
Wang, Xin
;
He, Yun-Long
;
He, Qing
;
Wang, Chong
;
Lei, Wei-Ning
收藏
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浏览/下载:23/0
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提交时间:2019/12/17
Annealing
Enhancement-Mode
AlGaN/GaN/AlGaN
HEMT
Fluorine Plasma
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