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Total Ionizing Dose Effects of the Color Complementary Metal Oxide Semiconductor (CMOS) Image Sensor at Different Bias
期刊论文
JOURNAL OF NANOELECTRONICS AND OPTOELECTRONICS, 2022, 卷号: 17, 期号: 1, 页码: 121-127
作者:
Yang, ZK (Yang, Zhikang) [1] , [2]
;
Wen, L (Wen, Lin) [1]
;
Li, YD (Li, Yudong) [1]
;
Liu, BK (Liu, Bingkai) [1] , [2]
;
Fu, J (Fu, Jing) [1] , [2]
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浏览/下载:21/0
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提交时间:2022/06/21
Color CMOS Image Sensor
Radiation Damage
Total Ionizing Dose Effects
Bias Condition
Single event transient effect of frontside and backside illumination image sensors under proton irradiation
期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2022, 卷号: 71, 期号: 5, 页码: 1-9
作者:
Fu, J (Fu Jing) [1] , [2] , [3]
;
Cai, YL (Cai Yu-Long) [4]
;
Li, YD (Li Yu-Dong) [1] , [2]
;
Feng, J (Feng Jie) [1] , [2]
;
Wen, L (Wen Lin) [1] , [2]
收藏
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浏览/下载:21/0
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提交时间:2022/06/06
CMOS image sensor
proton irradiation
single event effect
transientbrightspot
Anti-light-leakage approach to CMOS sensor decorated on airborne platform
期刊论文
Signal Image and Video Processing, 2022, 页码: 6
作者:
H. Zhang
;
X. Chen
;
S. Li
;
Z. Y. Sun
;
Y. Li
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提交时间:2023/06/14
Design of image storage and processing system for Tianwen-1 high-resolution camera
期刊论文
Guangxue Jingmi Gongcheng/Optics and Precision Engineering, 2022, 卷号: 30, 期号: 2, 页码: 127-136
作者:
Z. Wang
;
Y. He
;
X. Sun
;
F. Wu and D. Wang
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提交时间:2023/06/14
The Color Improvement of Underwater Images Based on Light Source and Detector
期刊论文
SENSORS, 2022, 卷号: 22, 期号: 2, 页码: 13
作者:
Quan, Xiangqian
;
Wei, Yucong
;
Li, Bo
;
Liu, Kaibin
;
Li, Chen
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提交时间:2022/05/26
underwater optics
color improvement
underwater imaging
Analysis of Dark Signal Degradation Caused by 1 MeV Neutron Irradiation on Backside-Illuminated CMOS Image Sensors
期刊论文
CHINESE JOURNAL OF ELECTRONICS, 2021, 卷号: 30, 期号: 1, 页码: 180-184
作者:
Liu, BK (Liu Bingkai)[ 1,2,3 ]
;
Li, YD (Li Yudong)[ 1,2 ]
;
Wen, L (Wen Lin)[ 1,2 ]
;
Zhou, D (Zhou Dong)[ 1,2 ]
;
Feng, J (Feng Jie)[ 1,2 ]
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浏览/下载:32/0
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提交时间:2021/05/10
Backside‐
illuminated CMOS image sensors
Dark signal behaviors
Displacement damage effects
Neutron irradiation
A pipeline row operation method of CMOS image sensors
期刊论文
IEICE Electronics Express, 2021, 卷号: 18, 期号: 6
作者:
Y. Li
;
C. Fu
;
T. Jiang
;
Y. Liu
;
C. Ma
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2022/06/13
Mechanism of Ionization Damage in Large Eight-Transistor Complementary Metal-Oxide-Semiconductor Color Image Sensors
期刊论文
JOURNAL OF NANOELECTRONICS AND OPTOELECTRONICS, 2021, 卷号: 16, 期号: 11, 页码: 1755-1761
作者:
Feng, J (Feng, Jie) [1] , [2]
;
Fu, J (Fu, Jing) [1] , [2] , [3]
;
Li, YD (Li, Yu-Dong) [1] , [2]
;
Wen, L (Wen, Lin) [1] , [2]
;
Guo, Q (Guo, Qi) [1] , [2]
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浏览/下载:23/0
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提交时间:2022/03/24
CMOS Color Image Sensor
Ionization Damage
Radiation-Sensitive Parameters
CMOS fixed pattern noise elimination based on sparse unidirectional hybrid total variation
期刊论文
Sensors, 2020, 卷号: 20, 期号: 19, 页码: 1-20
作者:
Zhang, Tao
;
Li, Xinyang
;
Li, Jianfeng
;
Xu, Zhi
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2021/05/11
FPN
sparse
total variation
anisotropy
characteristic
CMOS fixed pattern noise elimination based on sparse unidirectional hybrid total variation
期刊论文
Sensors, 2020, 卷号: 20, 期号: 19, 页码: 1-20
作者:
Zhang T(张涛)
;
Li, Xinyang
;
Li, Jianfeng
;
Xu Z(徐稚)
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浏览/下载:23/0
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提交时间:2020/10/23
FPN
sparse
total variation
anisotropy
characteristic
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