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北京大学 [7]
武汉大学 [2]
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其他 [9]
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2018 [2]
2015 [1]
2012 [1]
2009 [2]
2008 [2]
2007 [1]
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GoldCLIP: Gel-omitted Ligation-dependent CLIP (vol 16, pg 136, 2018)
其他
2018-01-01
作者:
Gu, Jiaqi
;
Wang, Ming
;
Yang, Yang
;
Qiu, Ding
;
Zhang, Yiqun
收藏
  |  
浏览/下载:10/0
  |  
提交时间:2019/12/05
GoldCLIP: Gel-omitted Ligation-dependent CLIP (vol 16, pg 136, 2018)
其他
2018-01-01
作者:
Gu, Jiaqi
;
Wang, Ming
;
Yang, Yang
;
Qiu, Ding
;
Zhang, Yiqun
收藏
  |  
浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2019/12/05
Association Between Size-segregated Particles in Ambient Air and Cardio-Respiratory Health Endpoints in People with Normal and Impaired Blood Glucose
其他
2015-01-01
Yiqun Han
;
Xiyue Zhanghan
;
Ran Li
;
Tianning Xie
;
You Wu
;
Ruoyu Wang
;
Weiju Li
;
Guanghua Zhou
;
Hongyin Zhang
;
Ton.q Zhu
;
other SCOPE Team members
;
Yanwen Wang
;
Xi Chen
;
Junxia Wang
;
Yanhua Fang
;
Min Hu
;
Ziqiang Tan
;
Qi Wang
;
Wu Chen
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2017/12/03
A data retention model for phase-change memory by the Monte Carlo approach
其他
2012-01-01
Jia, Yuchao
;
Lin, Xinnan
;
Wang, Wei
;
Wei, Yiqun
;
Cui, Xiaole
;
Zhang, Xing
收藏
  |  
浏览/下载:1/0
  |  
提交时间:2015/11/17
Fabrication and transport behavior investigation of gate-all-around silicon nanowire transistor from top-down approach (invited)
其他
2009-01-01
Huang, Ru
;
Wang, Runsheng
;
Tian, Yu
;
Zhuge, Jing
;
Zhang, Liangliang
;
Liu, Changze
;
Wang, Yiqun
;
Ai, Yujie
;
Wang, Yangyuan
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2015/11/13
Investigations on the impact of the parasitic bottom transistor in gate-all-around silicon nanowire SONOS memory cells fabricated on bulk Si substrate
其他
2009-01-01
Ai, Yujie
;
Huang, Ru
;
Wang, Yiqun
;
Zhuge, Jing
;
Wu, Dake
;
Wang, Runsheng
;
Tang, Poren
;
Zhang, Lijie
;
Hao, Zhihua
;
Wang, Yangyuan
收藏
  |  
浏览/下载:7/0
  |  
提交时间:2015/11/13
FinFET reliability study by forward gated-diode method
其他
2008-01-01
Chenyue, Ma.
;
Li, Bo
;
Wei, Yiqun
;
Zhang, Lining
;
He, Jin
;
Zhang, Xing
;
Lin, Xinnan
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2015/11/12
FinFET Reliability Study by Forward Gated-Diode Method
其他
2008-01-01
Ma, Chenyue
;
Li, Bo
;
Wei, Yiqun
;
Zhang, Lining
;
He, Jin
;
Zhang, Xing
;
Lin, Xinnan
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2015/11/13
FinFET
G-R current
stress
interface state
distribution
reliability issue
SOI
INTERFACE
MOSFETS
TRAPS
New self-aligned silicon nanowire transistors on bulk substrate fabricated by epi-free compatible CMOS technology: Process integration, experimental characterization of carrier transport and low frequency noise
其他
2007-01-01
Tian, Yu
;
Huang, Ru
;
Wang, Yiqun
;
Zhuge, Jing
;
Wang, Runsheng
;
Liu, Jia
;
Zhang, Xing
;
Wang, Yangyuan
收藏
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2015/11/10
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