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Targeted inhibition of STAT/TET1 axis as a therapeutic strategy for acute myeloid leukemia (vol 8, 2017)
其他
2018-01-01
作者:
Jiang, Xi
;
Hu, Chao
;
Ferchen, Kyle
;
Nie, Ji
;
Cui, Xiaolong
收藏
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2019/12/05
Targeted inhibition of STAT/TET1 axis as a therapeutic strategy for acute myeloid leukemia (vol 8, 2017)
其他
2018-01-01
作者:
Jiang, Xi
;
Hu, Chao
;
Ferchen, Kyle
;
Nie, Ji
;
Cui, Xiaolong
收藏
  |  
浏览/下载:13/0
  |  
提交时间:2019/12/05
Targeted inhibition of STAT/TET1 axis as a therapeutic strategy for acute myeloid leukemia (vol 8, 2017)
其他
2018-01-01
作者:
Jiang, Xi
;
Hu, Chao
;
Ferchen, Kyle
;
Nie, Ji
;
Cui, Xiaolong
收藏
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浏览/下载:20/0
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提交时间:2019/12/05
ESD Reliability Improvement of the 0.25-mu m 60-V Power nLDMOS with Discrete Embedded SCRs Separated by STI Structures
其他
2016-01-01
Chen, Shen-Li
;
Wu, Yi-Cih
;
Lin, Jia-Ming
;
Yang, Chih-Hung
;
Yen, Chih-Ying
;
Chen, Kuei-Jyun
;
Chen, Hung-Wei
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2017/12/03
Electrostatic discharge (ESD)
N-channel lateral-diffused MOSFET (nLDMOS)
Secondary breakdown current (I-t2)
Shallow-trench isolation (STI)
Silicon-controller rectifier (SCR)
ESD Reliability Evaluations of the 60-V nLDMOS by the Drain-side Discrete SCRs
其他
2016-01-01
Chen, Shen-Li
;
Chen, Kuei-Jyun
;
Wu, Yi-Cih
;
Lin, Jia-Ming
;
Yang, Chih-Hung
;
Yen, Chih-Ying
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2017/12/03
LDMOS
Design on ESD Robustness of Source-side Discrete Distribution in the 60-V High-Voltage nLDMOS Devices
其他
2016-01-01
Chen, Shen-Li
;
Yang, Chih-Hung
;
Yen, Chih-Ying
;
Chen, Kuei-Jyun
;
Wu, Yi-Cih
;
Lin, Jia-Ming
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2017/12/03
LDMOS
ESD reliability improvement of the 0.25-��m 60-V power nLDMOS with discrete embedded SCRs separated by STI structures
其他
2016-01-01
Chen, Shen-Li
;
Wu, Yi-Cih
;
Lin, Jia-Ming
;
Yang, Chih-Hung
;
Yen, Chih-Ying
;
Chen, Kuei-Jyun
;
Chen, Hung-Wei
收藏
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2017/12/03
ESD-reliability characterizations of a 45-V p-channel LDMOS-SCR with the discrete-cathode end
其他
2016-01-01
Chen, Shen-Li
;
Huang, Yu-Ting
;
Wu, Yi-Cih
;
Lin, Jia-Ming
;
Yang, Chih-Hung
;
Yen, Chih-Ying
;
Chen, Kuei-Jyun
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2017/12/03
Design on ESD robustness of source-side discrete distribution in the 60-V high-voltage nLDMOS devices
其他
2016-01-01
Chen, Shen-Li
;
Yang, Chih-Hung
;
Yen, Chih-Ying
;
Chen, Kuei-Jyun
;
Wu, Yi-Cih
;
Lin, Jia-Ming
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2017/12/03
ESD reliability evaluations of the 60-V nLDMOS by the drain-side discrete SCRs
其他
2016-01-01
Chen, Shen-Li
;
Chen, Kuei-Jyun
;
Wu, Yi-Cih
;
Lin, Jia-Ming
;
Yang, Chih-Hung
;
Yen, Chih-Ying
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2017/12/03
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