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| A Base Resistance Controlled Thyristor with N-type Buried Layer to Suppress the Snapback Phenomenon 会议论文
作者: Hu F(胡飞); Song LM(宋李梅) ; Li B(李博); Wang LX(王立新); Luo JJ(罗家俊)
  收藏 | 浏览/下载：28/0 | 提交时间：2019/05/13 |
| A Novel Super-Junction Structure to Improve SEB Performance 会议论文
作者: Wang L(王琳); Song LM(宋李梅); Wang LX(王立新); Luo JJ(罗家俊); Han ZS(韩郑生)
收藏 | 浏览/下载：22/0 | 提交时间：2019/05/13 |
| System Anslysis and PHM Methods for Power Devices Based on Physics-of-Failure 会议论文
作者: Gao B(高博); Wang LX(王立新); Zhang YL(张宇隆); Han ZS(韩郑生); Luo JJ(罗家俊)
收藏 | 浏览/下载：9/0 | 提交时间：2018/07/20 |
| Study Of RBSOA Reliability Of Nanoscale Partially Narrow Mesa IGBT (PNM-IGBT) 会议论文
作者: Lu J(陆江); Liu HN(刘海南); Luo JJ(罗家俊); Wang LX(王立新); Zhang GH(张国欢)
收藏 | 浏览/下载：15/0 | 提交时间：2017/05/19 |
| Prognostics and Health Management for VDMOS Basedon Physics-of-Failure 会议论文
作者: Luo JJ(罗家俊); Han ZS(韩郑生); Zhang YL(张宇隆); Wang LL(王路璐); Gao B(高博)
收藏 | 浏览/下载：8/0 | 提交时间：2017/05/19 |
| Bonding Degradation Modeling for High-power Semiconductors 会议论文
作者: Li Q(李庆); Wang LX(王立新); Luo JJ(罗家俊); Han ZS(韩郑生)
收藏 | 浏览/下载：13/0 | 提交时间：2017/05/19 |
| Failure Analysis of the VDMOS Device with VSD and RDS (on) Exceeded Limit Based on Reliability Physics 会议论文
作者: Li Q(李庆); Gao B(高博); Deng HT(邓海涛); Wang LX(王立新); Luo JJ(罗家俊)
收藏 | 浏览/下载：13/0 | 提交时间：2017/05/19 |
| Improved Single-Event Hardness of Trench Power MOSFET with a Widened Split Gate 会议论文
作者:
收藏 | 浏览/下载：10/0 | 提交时间：2017/05/19 |
| The mechanism of persistent photoconductivity induced by minority carrier trapping effect in ultraviolet photo-detector made of polycrystalline diamond film 会议论文
18th International Vacuum Congress (IVC), Beijing, PEOPLES R CHINA, AUG 23-27, 2010
作者: Wang, LX; Chen, XK; Wu, G; Guo, WT; Cao, SZ
收藏 | 浏览/下载：4/0 | 提交时间：2015/07/31
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| Mechanical properties of CaB6 sintered body 会议论文
Asian Pacific Conference on Fracture and Strength, OCT 06-08, 2004
作者: Min, GH; Yang, LX; Yu, HS; Han, JD
收藏 | 浏览/下载：2/0 | 提交时间：2019/12/31
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