Prognostics and Health Management for VDMOS Basedon Physics-of-Failure | |
Luo JJ(罗家俊); Han ZS(韩郑生); Zhang YL(张宇隆); Wang LL(王路璐); Gao B(高博); Wang LX(王立新) | |
2016-10-26 | |
文献子类 | 会议论文 |
内容类型 | 会议论文 |
源URL | [http://159.226.55.106/handle/172511/16331] |
专题 | 微电子研究所_硅器件与集成研发中心 |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Luo JJ,Han ZS,Zhang YL,et al. Prognostics and Health Management for VDMOS Basedon Physics-of-Failure[C]. 见:. |
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