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内容类型:会议论文
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A Base Resistance Controlled Thyristor with N-type Buried Layer to Suppress the Snapback Phenomenon
会议论文
作者:
Hu F(胡飞)
;
Song LM(宋李梅)
;
Li B(李博)
;
Wang LX(王立新)
;
Luo JJ(罗家俊)
收藏
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浏览/下载:28/0
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提交时间:2019/05/13
A Novel Super-Junction Structure to Improve SEB Performance
会议论文
作者:
Wang L(王琳)
;
Song LM(宋李梅)
;
Wang LX(王立新)
;
Luo JJ(罗家俊)
;
Han ZS(韩郑生)
收藏
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浏览/下载:22/0
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提交时间:2019/05/13
Investigation of the relationship between the total dose effect and thickness of Al2O3 gate dielectric under gamma-ray irradiation
会议论文
作者:
Li DL(李多力)
;
Zhu HP(朱慧平)
;
Chen X(陈曦)
;
Zheng ZS(郑中山)
;
Li B(李博)
收藏
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浏览/下载:23/0
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提交时间:2019/05/13
Correlation between the Decoupling Capacitor Layouts and Single-Event-Upset Resistances of SRAM cells
会议论文
作者:
Zhentao Li
;
Zheng ZS(郑中山)
;
Zhao K(赵凯)
;
Li B(李博)
;
Luo JJ(罗家俊)
收藏
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浏览/下载:22/0
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提交时间:2019/05/13
Total dose effects of 28nm FD-SOI CMOS transistors
会议论文
作者:
Kuang Y(匡勇)
;
Bu JH(卜建辉)
;
Li B(李博)
;
Gao LC(高林春)
;
Liang CP(梁春平)
收藏
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浏览/下载:26/0
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提交时间:2019/05/10
A low leakage current Tunneling-FET based on SOI
会议论文
作者:
Bu JH(卜建辉)
;
Li DL(李多力)
;
Xu GB(许高博)
;
Cai XW(蔡小五)
;
Kuang Y(匡勇)
收藏
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浏览/下载:35/0
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提交时间:2019/05/13
Constant voltage stress characterization of nFinFET transistor during total ionizing dose experiment
会议论文
作者:
Li BH(李彬鸿)
;
Huang Y(黄杨)
;
J.Wu
;
Huang YB(黄云波)
;
Li B(李博)
收藏
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浏览/下载:36/0
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提交时间:2019/05/13
Process variation dependence of total ionizing dose effects in bulk nFinFETs
会议论文
作者:
Li B(李博)
;
Huang YB(黄云波)
;
L.Yang
;
Zhang QZ(张青竹)
;
Zheng ZS(郑中山)
收藏
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浏览/下载:46/0
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提交时间:2019/05/13
Radiation and Annealing Characteristics of Interface traps in SOI NMOSFETs by the Direct-Current Current-Voltage Technique
会议论文
作者:
Li YY(李洋洋)
;
Li XJ(李晓静)
;
Li B(李博)
;
Gao LC(高林春)
;
Yan WW(闫薇薇)
收藏
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浏览/下载:39/0
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提交时间:2019/05/09
Comparison of 10 Mev Electron Beam Irradiation Effect on InGaN/GaN and AlGaN/GaN Multiple Quantum Well
会议论文
作者:
Bo Mei
;
Wang L(王磊)
;
Qingxuan Li
;
Ningyang Liu
;
Ligang Song
收藏
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浏览/下载:50/0
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提交时间:2019/05/10
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