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期刊论文 [38]
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发表日期
2019 [45]
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共45条,第1-10条
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发表日期:2019
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SEE Sensitivity Evaluation for Commercial 16 nm SRAM-FPGA
期刊论文
ELECTRONICS, 2019, 卷号: 8, 期号: 12, 页码: 12
作者:
Cai, Chang
;
Gao, Shuai
;
Zhao, Peixiong
;
Yu, Jian
;
Zhao, Kai
收藏
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浏览/下载:38/0
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提交时间:2022/01/19
field-programmable gate arrays
embedded block memory
single event
fault tolerance
radiation effect
Charge trapping effect in HfO2-based high-k gate dielectric stacks after heavy ion irradiation: The role of oxygen vacancy
期刊论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2019, 卷号: 459, 页码: 143-147
作者:
Li, Zongzhen
;
Liu, Tianqi
;
Bi, Jinshun
;
Yao, Huijun
;
Zhang, Zhenxing
收藏
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浏览/下载:35/0
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提交时间:2022/01/19
High-k HfO2
Heavy ion irradiation
Reliability
Charge trapping
Oxygen vacancy
Scalable Ambient Fabrication of High-Performance CsPbI2Br Solar Cells
期刊论文
JOULE, 2019, 卷号: 3, 期号: 10, 页码: 2485-2502
作者:
Fan, Yuanyuan
;
Fang, Junjie
;
Chang, Xiaoming
;
Tang, Ming-Chun
;
Barrit, Dounya
收藏
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浏览/下载:198/0
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提交时间:2019/12/02
Latent Reliability Degradation of Ultrathin Amorphous HfO2 Dielectric After Heavy Ion Irradiation: The Impact of Nano-Crystallization
期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2019, 卷号: 40, 期号: 10, 页码: 1634-1637
作者:
Li, Zongzhen
;
Liu, Jie
;
Zhai, Pengfei
;
Liu, Tianqi
;
Bi, Jinshun
收藏
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2022/01/19
HfO2
heavy ion irradiation
reliability degradation
crystallization
Intercalation structure of vanadium nitride nanoparticles growing on graphene surface toward high negative active material for supercapacitor utilization
期刊论文
JOURNAL OF ALLOYS AND COMPOUNDS, 2019, 卷号: 781, 页码: 1054-1058
作者:
He, Tianqi
;
Wang, Zhen
;
Li, Xiaoming
;
Tan, Yongtao
;
Liu, Ying
收藏
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2019/11/15
Vanadium nitride
GO
Surface polymerization
Hybrid material
Supercapacitor
Effects of total ionizing dose on single event effect sensitivity of FRAMs
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2019, 卷号: 95, 页码: 1-7
作者:
Ji, Qinggang
;
Liu, Jie
;
Li, Dongqing
;
Liu, Tianqi
;
Ye, Bing
收藏
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浏览/下载:54/0
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提交时间:2019/11/10
Ferroelectric random access memory
Total ionizing dose
Single event effect
TCAD simulation
Heavy-Ion Induced Single Event Upsets in Advanced 65 nm Radiation Hardened FPGAs
期刊论文
ELECTRONICS, 2019, 卷号: 8, 期号: 3, 页码: 13
作者:
Ke, Lingyun
;
Zhao, Peixiong
;
Liu, Jie
;
Fan, Xue
;
Cai, Chang
收藏
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浏览/下载:108/0
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提交时间:2019/11/10
FPGA
radiation hardening
single event upsets
heavy ions
error rates
Genetic Load and Potential Mutational Meltdown in Cancer Cell Populations
期刊论文
MOLECULAR BIOLOGY AND EVOLUTION, 2019, 卷号: 36, 期号: 3, 页码: 541-552
作者:
Zhang, Yuezheng
;
Li, Yawei
;
Li, Tao
;
Shen, Xu
;
Zhu, Tianqi
收藏
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浏览/下载:75/0
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提交时间:2020/01/10
genetic load
Muller's ratchet
HeLa cell line
copy number variation
miRNA profiling in the hippocampus of attention-deficit/hyperactivity disorder rats
期刊论文
JOURNAL OF CELLULAR BIOCHEMISTRY, 2019, 卷号: 120, 期号: 3
作者:
Chen, Chunxiao
;
Li, Nan
;
Li, Yue
;
Xu, Siliang
;
Fu, Ziyi
收藏
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2019/12/05
attention-deficit/hyperactivity disorder (ADHD)
high-throughput sequencing
microRNA (miRNAs)
spontaneously hypertensive rat (SHR)
Wistar-Kyoto rat (WKY)
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