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科研机构
微电子研究所 [6]
内容类型
期刊论文 [6]
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2015 [6]
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发表日期:2015
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Novel 14-nm Scallop-Shaped FinFETs (S-FinFETs) on Bulk-Si Substrate
期刊论文
Nanoscale Research Letters, 2015
作者:
Xu WJ(徐唯佳)
;
Yin HX(殷华湘)
;
Ma XL(马小龙)
;
Hong PZ(洪培真)
;
Xu M(许淼)
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2016/05/31
Impact of Continuing Scaling on the Device Performance of 3D Cylindrical Junction-less Charge Trapping Memory
期刊论文
Journal of Semiconductors, 2015
作者:
Ye TC(叶甜春)
;
Li CL(李春龙)
;
Tang ZY(唐兆云)
;
Xu Q(徐强)
;
Hong PZ(洪培真)
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2016/06/03
Gate-All-Around Silicon Nanowire Transistors with Channel-Last Process on Bulk Si Substrate
期刊论文
IEICE Electronics Express, 2015
作者:
Ma XL(马小龙)
;
Yin HX(殷华湘)
;
Hong PZ(洪培真)
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2016/05/31
Device parameter optimization for sub-20 nm node HK/MG-last bulk FinFETs
期刊论文
Journal of Semiconductors, 2015
作者:
Zhao ZG(赵治国)
;
Luo J(罗军)
;
Yang H(杨红)
;
Meng LK(孟令款)
;
Hong PZ(洪培真)
收藏
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浏览/下载:33/0
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提交时间:2016/05/31
Self-Aligned Fin-On-Oxide (FOO) FinFETs for Improved SCE Immunity and Multi-VTH Operation on Si Substrate
期刊论文
ECS Solid State Letters, 2015
作者:
Yin HX(殷华湘)
;
Ma XL(马小龙)
;
Hong PZ(洪培真)
;
Xu WJ(徐唯佳)
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2016/05/31
Planar Bulk MOSFETs With Self-Aligned Pocket Well to Improve Short-Channel Effects and Enhance Device Performance
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2015
作者:
Zhao YY(赵玉印)
;
He XB(贺晓彬)
;
Gao JF(高建峰)
;
Xu Q(徐强)
;
Li JJ(李俊杰)
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2016/05/31
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