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Performance evaluation of silicon-chip-based mid-infrared Kerr optical frequency combs with ridge cross section
期刊论文
Optik, 2022, 卷号: 266
作者:
Wen, Jin
;
Qin, Weijun
;
Sun, Wei
;
He, Chenyao
;
Xiong, Keyu
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浏览/下载:22/0
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提交时间:2022/08/18
Kerr frequency comb
SOI microring resonator
Mid-infrared
Cascaded four-wave mixing
Nonlinear optics
1/f Noise responses of Ultra-Thin Body and Buried oxide FD-SOI PMOSFETs under total ionizing dose irradiation
期刊论文
RADIATION EFFECTS AND DEFECTS IN SOLIDS, 2022, 卷号: 176, 期号: 11-12, 页码: 1202-1214
作者:
Zhang, RQ (Zhang, Ruiqin) [1] , [2] , [3]
;
Zheng, QW (Zheng, Qiwen) [1] , [2]
;
Lu, W (Lu, Wu) [1] , [2]
;
Cui, JW (Cui, Jiangwei) [1] , [2]
;
Li, YD (Li, Yudong) [1] , [2]
收藏
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浏览/下载:21/0
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提交时间:2022/04/07
Total ionizing dose irradiation
UTBB FD-SOI
1
f noise
Mid-infrared chalcogenide slot waveguide plasmonic resonator sensor embedded with Au nanorods for surface-enhanced infrared absorption spectroscopy
期刊论文
Results in Physics, 2022, 卷号: 42, 页码: 9
作者:
M. Q. Pi
;
H. Zhao
;
C. G. Li
;
Y. T. Min
;
Z. H. Peng
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2023/06/14
On-chip mid-infrared silicon-on-insulator waveguide methane sensor using two measurement schemes at 3.291 mu m
期刊论文
Frontiers in Chemistry, 2022, 卷号: 10, 页码: 11
作者:
H. Zhao
;
C. T. Zheng
;
M. Q. Pi
;
L. Liang
;
F. Song
收藏
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2023/06/14
A Compact Optical MEMS Pressure Sensor Based on FabryPerot Interference
期刊论文
Sensors, 2022, 卷号: 22, 期号: 5
作者:
Y. Qi
;
M. Zhao
;
B. Li
;
Z. Ren
;
B. Li and X. Wei
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浏览/下载:0/0
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提交时间:2023/06/14
Impacts of carbon ions on SEU in SOI SRAM
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2021, 卷号: 126, 页码: 6
作者:
Gao, J.
;
Zhang, Q.
;
Xi, K.
;
Li, B.
;
Wang, C.
收藏
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浏览/下载:25/0
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提交时间:2022/01/24
SEE
SEU
SOI SRAM
C
Ultra-broadband Bragg concave diffraction grating designs on 220-nm SOI for wavelength demultiplexing
期刊论文
Optics Express, 2021, 卷号: 29, 期号: 19, 页码: 30259-30271
作者:
Li, Ke
;
Zhu, Jingping
;
Duan, Qihang
;
Sun, Yuzhou
;
Hou, Xun
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2021/09/18
Experimental investigation on total-ionizing-dose radiation effects on the electrical properties of SOI-LIGBT
期刊论文
SOLID-STATE ELECTRONICS, 2021, 卷号: 175, 期号: 1, 页码: 1-7
作者:
Yang, GG (Yang, Guangan)[ 1 ]
;
Wu, WR (Wu, Wangran)[ 1 ]
;
Zhang, XY (Zhang, Xingyao)[ 2 ]
;
Tang, PY (Tang, Pengyu)[ 1 ]
;
Yang, J (Yang, Jing)[ 1 ]
收藏
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浏览/下载:30/0
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提交时间:2021/03/15
SOI-LIGBT
Total-ionizing-dose
Radiation
Degradation
Impact of TID on Within-Wafer Variability of Radiation-Hardened SOI Wafers
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2021, 卷号: 68, 期号: 7, 页码: 1423-1429
作者:
Zheng, QW (Zheng, Qiwen) 1
;
Cui, JW (Cui, Jiangwei) 1
;
Yu, XF (Yu, Xuefeng) 1
;
Li, YD (Li, Yudong) 1
;
Lu, W (Lu, Wu) 1
收藏
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浏览/下载:40/0
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提交时间:2021/08/06
Radiation-hardened (RH)silicon-on-insulator (SOI)total ionizing dose (TID)within-wafer variability
Measurement and Evaluation of the Within-Wafer TID Response Variability on BOX Layer of SOI Technology
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2021, 卷号: 68, 期号: 10, 页码: 2516-2523
作者:
Zheng, QW (Zheng, Qiwen) 1Cui, JW (Cui, Jiangwei) 1Yu, XF (Yu, Xuefeng) 1
;
Li, YD (Li, Yudong) 1
;
Lu, W (Lu, Wu) 1
;
He, CF (He, Chengfa) 1
;
Guo, Q (Guo, Qi) 1
收藏
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浏览/下载:40/0
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提交时间:2021/12/06
Threshold voltage
TestingMOSFET circuits
Transistors
Standards
Logic gates
Fluctuations
Buried oxide (BOX)
silicon-on-insulator (SOI)
total ionizing dose (TID)
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