×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
北京大学 [49]
厦门大学 [5]
太原师范学院 [3]
心理研究所 [1]
内容类型
其他 [58]
发表日期
2017 [1]
2016 [3]
2015 [8]
2014 [7]
2013 [3]
2012 [5]
更多...
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共58条,第1-10条
帮助
限定条件
内容类型:其他
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
Optimization of residual stress of SiO2/organic silicon stacked layer prepared using inductively coupled plasma deposition
其他
2017-01-01
Hsu, Chia-Hsun
;
Cho, Yun-Shao
;
Liu, Ting-Xuan
;
Chang, Hsi-Wei
;
Lien, Shui-Yang
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Organic silicon
Residual stress
Encapsulation
Water vapor transmission rate
Trimethylsilane
LIGHT-EMITTING-DIODES
AMORPHOUS-SILICON
DEGRADATION MECHANISMS
FILMS
TRIMETHYLSILANE
VAPOR
Adding the missing time-dependent layout dependency into device-circuit-layout co-optimization-New findings on the layout dependent aging effects
其他
2016-01-01
Ren, Pengpeng
;
Xu, Xiaoqing
;
Hao, Peng
;
Wang, Junyao
;
Wang, Runsheng
;
Li, Ming
;
Wang, Jianping
;
Bu, Weihai
;
Wu, Jingang
;
Wong, Waisum
;
Yu, Shaofeng
;
Wu, Hanming
;
Lee, Shiuh-Wuu
;
Pan, David Z.
;
Huang, Ru
收藏
  |  
浏览/下载:11/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Analysis of Self-heating Effect in a SOI LDMOS Device under an ESD Stress
其他
2016-01-01
Tianxing Li
;
Jian Cao
;
Lizhong Zhang
;
Yuan Wang
收藏
  |  
浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2017/12/03
heating
buried
robustness
inserted
TCAD
Drift
handling
productive
summarized
Figure
heating
buried
robustness
inserted
TCAD
Drift
handling
productive
summarized
Figure
High reliability of IGZO TFTs using low-temperature fabricated organic passivation layers
其他
2016-01-01
Huiling Lu
;
Ting Liang
;
Shengdong Zhang
收藏
  |  
浏览/下载:7/0
  |  
提交时间:2017/12/03
swing
degraded
resist
indium
amorphous
remarkably
sputtering
annealing
candidate
magnetron
swing
degraded
resist
indium
amorphous
remarkably
sputtering
annealing
candidate
magnetron
Comprehensive Understanding of Hot Carrier Degradation in Multiple-fin SOI FinFETs
其他
2015-01-01
Jiang, Hai
;
Yin, Longxiang
;
Li, Yun
;
Xu, Nuo
;
Zhao, Kai
;
He, Yandong
;
Du, Gang
;
Liu, Xiaoyan
;
Zhang, Xing
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2017/12/03
multi-gate FET
Silicon-on-Insulator
hot carrier
interface charge
oxide charge
reliability
REGIME
Comparison imaging effect of acoustic radiation force excitation in ultrasound
其他
2015-01-01
Guo, Dequan
;
Yin, Hao
;
Liu, Richen
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Investigation of stress rupture properties of micro beams using the piezoresistive effect
其他
2015-01-01
Guan, Taotao
;
Yang, Fang
;
Wang, Wei
;
Huang, Xian
;
He, Jun
;
Zhang, Li
;
Fu, Fengshan
;
Li, Rui
;
Zhang, Dacheng
收藏
  |  
浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2017/12/03
An Investigation of DC/AC Hot Carrier Degradation in Multiple-fin SOI FinFETs
其他
2015-01-01
Jiang, H.
;
Liu, X. Y.
;
Xu, N.
;
He, Y. D.
;
Du, G.
;
Zhang, X.
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2017/12/03
multi-gate FET
Silicon-on-insulator
hot carrier degradation
reliability
N-FINFETS
INJECTION
MOSFETS
GATE
An Investigation of DC/AC hot carrier degradation in multiple-fin SOI FinFETs
其他
2015-01-01
Jiang, H.
;
Liu, X.Y.
;
Xu, N.
;
He, Y.D.
;
Du, G.
;
Zhang, X.
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Adding the Missing Time-Dependent Layout Dependency into Device-Circuit-Layout Co-Optimization -New Findings on the Layout Dependent Aging Effects
其他
2015-01-01
Ren, Pengpeng
;
Xu, Xiaoqing
;
Hao, Peng
;
Wang, Junyao
;
Wang, Runsheng
;
Li, Ming
;
Wang, Jianping
;
Bu, Weihai
;
Wu, Jingang
;
Wong, Waisum
;
Yu, Shaofeng
;
Wu, Hanming
;
Lee, Shiuh-Wuu
;
Pan, David Z.
;
Huang, Ru
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2017/12/03
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace