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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 内容类型：其他    专题：北京大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Enhanced photocurrent generation in twisted bilayer graphene with van Hove singularity 其他 2015-01-01 Jianbo Yin; Huan Wang; Han Peng; Zhenjun Tan; Yulin Chen; Hailin Peng; Zhongfan Liu 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2017/12/03 Twisted bilayer graphene  photocurrent  van Hove singularity  Twisted bilayer graphene  photocurrent  van Hove singularity   Novel voltage step stress (VSS) technique for fast lifetime prediction of hot carrier degradation 其他 2014-01-01 Feng, Xixiang; Ren, Pengpeng; Ji, Zhigang; Wang, Runsheng; Sutaria, Ketul B.; Cao, Yu; Huang, Ru 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2015/11/13 Investigation of analog/RF performance and reliability behavior of silicon nanowire MOSFETs (invited) 其他 2007-01-01 Huang, Ru; Wang, Runsheng; Zhuge, Jing; Tian, Yu; Wang, Zhenhua; Kim, Dong-Won; Park, Donggun; Wang, Yangyuan 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2015/11/10 TRANSISTORS   A new lifetime prediction method for hot-carrier degradation in n-MOSFETs with ultrathin gate oxides under V-g = V-d 其他 2001-01-01 Mu, FC; Xu, MZ; Tan, CH; Duan, XR 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2015/11/10 DEVICE DEGRADATION  CHANNEL MOSFETS  MODEL  TRANSISTORS  DAMAGE