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近代物理研究所 [3]
北京航空航天大学 [1]
内容类型
期刊论文 [4]
发表日期
2019 [4]
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发表日期:2019
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SEE Sensitivity Evaluation for Commercial 16 nm SRAM-FPGA
期刊论文
ELECTRONICS, 2019, 卷号: 8, 期号: 12, 页码: 12
作者:
Cai, Chang
;
Gao, Shuai
;
Zhao, Peixiong
;
Yu, Jian
;
Zhao, Kai
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浏览/下载:38/0
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提交时间:2022/01/19
field-programmable gate arrays
embedded block memory
single event
fault tolerance
radiation effect
Total Ionizing Dose Influence on the Single-Event Multiple-Cell Upsets in 65-nm 6-T SRAM
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2019, 卷号: 66, 期号: 6, 页码: 892-898
作者:
Zheng, Qiwen
;
Cui, Jiangwei
;
Lu, Wu
;
Guo, Hongxia
;
Liu, Jie
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浏览/下载:74/0
  |  
提交时间:2019/11/10
Single-event multiple-cell upsets (MCUs)
static random access memory
total ionizing dose (TID)
Heavy-Ion Induced Single Event Upsets in Advanced 65 nm Radiation Hardened FPGAs
期刊论文
ELECTRONICS, 2019, 卷号: 8, 期号: 3, 页码: 13
作者:
Ke, Lingyun
;
Zhao, Peixiong
;
Liu, Jie
;
Fan, Xue
;
Cai, Chang
收藏
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浏览/下载:108/0
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提交时间:2019/11/10
FPGA
radiation hardening
single event upsets
heavy ions
error rates
Redesigning pipeline when architecting STT-RAM as registers in rad-hard environment
期刊论文
SUSTAINABLE COMPUTING-INFORMATICS & SYSTEMS, 2019, 卷号: 22, 页码: 206-218
作者:
Gong, Zhiyao
;
Qiu, Keni
;
Chen, Weiwen
;
Ni, Yuanhui
;
Xu, Yuanchao
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浏览/下载:22/0
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提交时间:2019/12/30
Electromagnetic waves
Embedded systems
Merging
Pipelines
Radiation hardening
Static random access storage
Data dependencies
Emerging non-volatile memory
High radiation resistance
Micro architectures
Nonvolatility
Single event
Single event upsets
Spin transfer torque
Radiation effects
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