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内容类型
期刊论文 [5]
其他 [1]
发表日期
2016 [6]
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发表日期:2016
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The Investigation on Single Event Function Failure for DC/DC Converters with Three Single Terminal Topological Structures
期刊论文
CHINESE JOURNAL OF ELECTRONICS, 2016, 卷号: 25, 页码: 1097-1100
作者:
Li Pengwei
;
Wang Wenyan
;
Luo Lei
;
Yu Qingkui
;
Tang Min
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浏览/下载:32/0
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提交时间:2018/07/16
DC/DC converter
Single event function failure
Sensitive factors
Topological structure
Single-event transient characterization of a radiation-tolerant charge-pump phase-locked loop fabricated in 130 nm pd-soi technology
期刊论文
Ieee transactions on nuclear science, 2016, 卷号: 63, 期号: 4, 页码: 2402-2408
作者:
Chen, Zhuojun
;
Lin, Min
;
Zheng, Yunlong
;
Wei, Zuodong
;
Huang, Shuigen
收藏
  |  
浏览/下载:42/0
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提交时间:2019/05/09
Heavy-ion testing
Pd-soi
Phase-locked loop
Pulsed-laser testing
Radiation hardening by design
Single-event transients
A PD-SOI based DTI-LOCOS combined cross isolation technique for minimizing TID radiation induced leakage in high density memory
期刊论文
2016, 2016
谯凤英
;
潘立阳
;
伍冬
;
刘利芳
;
许军
;
Qiao Fengying
;
Pan Liyang
;
Wu Dong
;
Liu Lifang
;
Xu Jun
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
Statistical Analysis on Performance Degradation of 90 nm bulk SiMOS Devices Irradiated by Heavy Ions
其他
2016-01-01
Zhexuan Ren
;
Xia An
;
Weikang Wu
;
Xing Zhang
;
Ru Huang
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2017/12/03
irradiation
saturation
trapped
charges
irradiated
attributed
hardened
intrinsic
leakage
incident
irradiation
saturation
trapped
charges
irradiated
attributed
hardened
intrinsic
leakage
incident
Investigation of a radiation-hardened quasi-SOI device: performance degradation induced by single ion irradiation
期刊论文
SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2016
Wu, Weikang
;
An, Xia
;
Que, Taotao
;
Zhang, Xing
;
Shen, Dongjun
;
Guo, Gang
;
Huang, Ru
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2017/12/04
radiation-hardened
quasi-SOI
microdose effect
heavy ion
irradiation
EVENT TRANSIENTS
MOSFETS
IMPACT
TECHNOLOGIES
LOGIC
BULK
An SEU resilient, SET filterable and cost effective latch in presence of PVT variations
期刊论文
Microelectronics Reliability, 2016, 卷号: Vol.63, 页码: 239-250
作者:
Liang,Huaguo
;
Li,Xuejun
;
Jiang,Cuiyun
;
Yan,Aibin
;
Ouyang,Yiming
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2019/04/22
NANOSCALE CMOS TECHNOLOGY
RADIATION-HARDENED LATCH
TOLERANT LATCH
HIGH-PERFORMANCE
DESIGN
CIRCUITS
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