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Synthesis of Composite Carbon-Based Nano-Zero-Valent Iron Micro-Electrolytic Material and Removal of Dichloromethanesulfonic Acid in Drinking Water 期刊论文
NANO, 2019, 卷号: 14, 期号: 5, 页码: -
作者:  Liu, Kai;  Shangguan, Zhonghua;  Zhang, Xiaohang;  Shi, Yali;  Wang, Hao
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Laser-Induced Micro SEL Characterization of SRAM Devices 会议论文
San Antonio, TX, United states, July 8, 2019 - July 12, 2019
作者:  Yingqi, Ma;  Jianwei, Han;  Shipeng, Shangguan;  Xiang, Zhu;  Rui, Chen
收藏  |  浏览/下载：33/0  |  提交时间：2019/12/26
SEE Characteristics of COTS Devices by 1064nm Pulsed Laser Backside Testing 会议论文
Waikoloa, HI, United states, July 16, 2018 - July 20, 2018
作者:  Ma, Yingqi;  Han, Jianwei;  Shangguan, Shipeng;  Chen, Rui;  Zhu, Xiang
收藏  |  浏览/下载：34/0  |  提交时间：2019/03/05
一种密码芯片的安全检测方法及其装置 专利
申请日期: 2017-12-27, 公开日期: 2018-06-15
作者:  朱翔;   韩建伟;   马英起;   上官士鹏;   李悦
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Primary investigation the impacts of the external memory (DDR3) failures on the performance of Xilinx Zynq-7010 SoC based system (MicroZed) using laser irradiation 期刊论文
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 2017
作者:  Liu Shuhuan;  Du Xuecheng;  Du Xiaozhi;  Zhang Yao;  Mubashiru Lawal Olarewaju
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运算放大器单粒子瞬态脉冲效应试验评估及防护设计 期刊论文
空间科学学报, 2017, 卷号: 37, 期号: 2, 页码: 222-228
作者:  程佳;  马英起;  韩建伟;  朱翔;  上官士鹏
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Comparison of radiation-induced charge sharing generated by heavy ion and pulsed laser 会议论文
Bremen, Germany, September 19, 2016 - September 23, 2016
作者:  Song, Ruiqiang;  Chen, Shuming;  Han, Jianwei;  Chi, Yaqing;  Chen, Rui
收藏  |  浏览/下载：36/0  |  提交时间：2018/04/09
Comparison of single-event upset generated by heavy ion and pulsed laser 期刊论文
Science China Information Sciences, 2017, 卷号: 60, 期号: 7
作者:  Liang, Bin;  Song, Ruiqiang;  Han, Jianwei;  Chi, Yaqing;  Chen, Rui
收藏  |  浏览/下载：61/0  |  提交时间：2017/09/14
Primary investigation the impacts of the external memory (DDR3) failures on the performance of Xilinx Zynq-7010 SoC based system (MicroZed) using laser irradiation 会议论文
作者:  Liu, Shuhuan;  Du, Xuecheng;  Du, Xiaozhi;  Zhang, Yao;  Mubashiru, Lawal Olarewaju
收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2019/11/26
一种用于半导体器件材料厚度的光学测量方法 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2015-08-24, 公开日期: 2016-03-01
作者:  封国强;  马英起;  韩建伟;  上官士鹏;  朱翔
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