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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2015     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Influence of edge effects on single event upset susceptibility of SOI SRAMs 期刊论文 NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2015, 卷号: 342, 页码: 286-291 作者:  Xi, Kai;  Liu, Gang;  Hou, Mingdong;  Geng, Chao;  Bi, Jinshun 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2018/07/16 Single event upset  Edge effects  Sensitive region  CREME-MC simulation