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Heavy ion induced upset errors in 90-nm 64 Mb NOR-type floating-gate Flash memory 期刊论文
Chinese physics B, 2018
作者:  Bi JS(毕津顺);  Xi K(习凯);  Li B(李博);  Wang HB(王海滨);  Ji LL(季兰龙)
收藏  |  浏览/下载:24/0  |  提交时间:2019/04/12
Bipolar Analog Memristors as Artificial Synapses for Neuromorphic Computing 期刊论文
Materials, 2018
作者:  Wang R(王睿);  Shi T(时拓);  Zhang XM(张续猛);  Wang W(王伟);  Wei JS(魏劲松)
收藏  |  浏览/下载:22/0  |  提交时间:2019/04/18
A Single Event Upset Tolerant Latch Design 会议论文
作者:  Haibin Wang;  Xixi Dai;  Yangsheng Wang;  Issam Nofal;  Li Cai
收藏  |  浏览/下载:35/0  |  提交时间:2019/05/13
Total Ionization Dose Effects on Charge Storage Capability of Al2O3/HfO2/Al2O3 (AHA)-based Charge Trapping Memory (CTM) Cell 期刊论文
Chinese Physics Letters, 2018
作者:  Xu YN(徐彦楠);  Bi JS(毕津顺);  Xu GB(许高博);  Li B(李博);  Xi K(习凯)
收藏  |  浏览/下载:21/0  |  提交时间:2019/04/18
Total Ionizing Dose Effects of 55-nm Silicon-Oxide-Nitride-Oxide-Silicon Charge 期刊论文
CHIN. PHYS. LETT., 2018
作者:  Bi JS(毕津顺);  Xu YN(徐彦楠);  Li B(李博);  Xi K(习凯);  Wang HB(王海滨)
收藏  |  浏览/下载:14/0  |  提交时间:2019/04/12
An Artificial Neuron Based on a Threshold Switching Memristor 期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2018
作者:  Zhang XM(张续猛);  Wang W(王伟);  Liu Q(刘琦);  Zhao XL(赵晓龙);  Wei JS(魏劲松)
收藏  |  浏览/下载:22/0  |  提交时间:2019/04/10
The TID effects of RRAM based oxide material 会议论文
作者:  Wang Y(王艳);  Liu M(刘明);  Long SB(龙世兵);  Lv HB(吕杭炳);  Liu Q(刘琦)
收藏  |  浏览/下载:8/0  |  提交时间:2016/06/14
Effects of Si, Ge and Ar ion-implantation on EL from Au/Si-rich SiO2/p-Si structure 外文期刊
2001
作者:  Chen, Y;  Ran, GZ;  Sun, YK;  Wang, YB;  Fu, JS
收藏  |  浏览/下载:9/0  |  提交时间:2010/11/26


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