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	A Single Event Upset Tolerant Latch Design
	Haibin Wang; Xixi Dai; Yangsheng Wang; Issam Nofal; Li Cai; ZiCai Shen; Wanxiu Sun; Bi JS(毕津顺); Li B(李博); Gang Guo
	2018-10-01
语种	英语
内容类型	会议论文
源URL	[http://159.226.55.107/handle/172511/19124]
专题	微电子研究所_硅器件与集成研发中心
作者单位	中国科学院微电子研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	Haibin Wang,Xixi Dai,Yangsheng Wang,et al. A Single Event Upset Tolerant Latch Design[C]. 见:.

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