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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 发表日期：2006     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Evaluating interface effect on stresses in thin films by a local curvature metrology with high accuracy and resolution 其他 2006-01-01 Wang, Shasha; Chen, Jing; Li, Dachao; Huang, Yubo; Li, Zhihong; Zhang, Wendong 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/16 AEMS  residual stress  nano-scale film  interferometry measurement   Highly sensitive local curvature metrology for internal stress detection in thin films 期刊论文 pan tao ti hsueh paochinese journal of semiconductors, 2006 Wang, Shasha; Chen, Jing; Li, Dachao; Huang, Yubo; Li, Zhihong 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2015/11/13