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科研机构
半导体研究所 [8]
内容类型
期刊论文 [8]
发表日期
2007 [1]
2006 [2]
2005 [1]
2004 [1]
2003 [1]
1992 [1]
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学科主题
半导体材料 [8]
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学科主题:半导体材料
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Structural and Optical Performance of GaN Thick Film Grown by HVPE
期刊论文
半导体学报, 2007, 卷号: 28, 期号: 1, 页码: 19-23
作者:
Duan Ruifei
;
Liu Zhe
;
Duan Ruifei
;
Wei Tongbo
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提交时间:2010/11/23
带有A1N插入层的GaN薄膜的结构及应变研究
期刊论文
原子能科学技术, 2006, 卷号: 40, 期号: 5, 页码: 614-619
作者:
赵强
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浏览/下载:35/0
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提交时间:2010/11/23
High-precision determination of lattice constants and structural characterization of InN thin films
期刊论文
journal of vacuum science & technology a, 2006, 卷号: 24, 期号: 2, 页码: 275-279
Wu MF
;
Zhou SQ
;
Vantomme A
;
Huang Y
;
Wang H
;
Yang H
收藏
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浏览/下载:108/0
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提交时间:2010/04/11
X-RAY-DIFFRACTION
BAND-GAP
EPITAXIAL LAYERS
INDIUM NITRIDE
HEXAGONAL INN
CUBIC INN
GROWTH
PARAMETERS
INGAN
PHASE
Comparison of the properties of GaN grown on complex Si-based structures
期刊论文
applied physics letters, 2005, 卷号: 86, 期号: 8, 页码: art.no.081912
Zhou, SQ
;
Vantomme, A
;
Zhang, BS
;
Yang, H
;
Wu, MF
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浏览/下载:30/0
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提交时间:2010/03/17
CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION
Depth distribution of the strain in the GaN layer with low-temperature AlN interlayer on Si(111) substrate studied by Rutherford backscattering/channeling
期刊论文
applied physics letters, 2004, 卷号: 85, 期号: 23, 页码: 5562-5564
Lu, Y
;
Cong, GW
;
Liu, XL
;
Lu, DC
;
Wang, ZG
;
Wu, MF
收藏
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浏览/下载:20/0
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提交时间:2010/03/17
STRESS
掺铒GaN薄膜的背散射/沟道分析和光致发光研究
期刊论文
物理学报, 2003, 卷号: 52, 期号: 10, 页码: 2558-2562
作者:
朱建军
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2010/11/23
REDUCTION OF CRYSTALLINE DISORDER IN MOLECULAR-BEAM EPITAXY GAAS ON SI BY MEV ION-IMPLANTATION AND SUBSEQUENT ANNEALING
期刊论文
journal of applied physics, 1992, 卷号: 71, 期号: 10, 页码: 4843-4847
XIAO GM
;
YIN SD
;
ZHANG JP
;
DONG AH
;
ZHU PR
;
LIU JR
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2010/11/15
QUALITY
CHANNELING ANALYSIS OF SELF-IMPLANTED AND RECRYSTALLIZED SILICON ON SAPPHIRE
期刊论文
nuclear instruments & methods in physics research section b-beam interactions with materials and atoms, 1986, 卷号: 15, 期号: 0, 页码: 350-351
FAN RY
;
YU YH
;
YIN SD
;
LIN LY
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2010/11/15
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