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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Focused ion beam preparation of microbeams forin situmechanical analysis of electroplated nanotwinned copper with probe type indenters 期刊论文 JOURNAL OF MICROSCOPY, 2020, 卷号: 279, 期号: 3, 页码: 212-216 作者:  Robertson, Stuart;  Doak, Scott;  Sun, Fu-Long;  Liu, Zhi-Quan;  Liu, Changqing 收藏  |  浏览/下载：28/0  |  提交时间：2021/02/02 Chunk lift-out  focused ion beam  in situ  micromechanical testing  nanotwinned copper  P-FIB