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科研机构
半导体研究所 [7]
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会议论文 [1]
发表日期
2011 [1]
2007 [1]
2006 [1]
2003 [1]
2002 [1]
2000 [1]
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学科主题
半导体材料 [7]
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学科主题:半导体材料
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Investigation of cracks in GaN films grown by combined hydride and metal organic vapor-phase epitaxial method
期刊论文
nanoscale research letters, 2011, 卷号: 6, 页码: article no.69
作者:
Song HP
;
Wei HY
;
Li CM
;
Jiao CM
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浏览/下载:66/4
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提交时间:2011/07/05
CATHODOLUMINESCENCE CHARACTERIZATION
GALLIUM NITRIDE
STRESSES
LAYERS
HETEROSTRUCTURE
DEPOSITION
CONSTANTS
MECHANISM
SAPPHIRE
STRAIN
High responsivity ultraviolet photodetector based on crack-free GaN on Si (111)
会议论文
33rd international symposium on compound semiconductors, vancouver, canada, aug 13-17, 2006
Wang, XY (Wang, Xiaoyan)
;
Wang, XL (Wang, Xiaoliang)
;
Wang, BZ (Wang, Baozhu)
;
Xiao, HL (Xiao, Hongling)
;
Liu, HX (Liu, Hongxin)
;
Wang, JX (Wang, Junxi)
;
Zeng, YP (Zeng, Yiping)
;
Li, JM (Li, Jinmin)
收藏
  |  
浏览/下载:125/38
  |  
提交时间:2010/03/29
BUFFER LAYER
STRESS
PHOTODIODES
REDUCTION
DETECTORS
SAPPHIRE
EPITAXY
GROWTH
Crack control in GaN grown on silicon (111) using In doped low-temperature AlGaN interlayer by metalorganic chemical vapor deposition
期刊论文
optical materials, 2006, 卷号: 28, 期号: 10, 页码: 1227-1231
Wu JJ (Wu Jiejun)
;
Han XX (Han Xiuxun)
;
Li JM (Li Jiemin)
;
Wei HY (Wei Hongyuan)
;
Cong GW (Cong Guangwei)
;
Liu XL (Liu Xianglin)
;
Zhu QS (Zhu Qinsheng)
;
Wang ZG (Wang Zhanguo)
;
Jia QJ (Jia Quanjie)
;
Guo LP (Guo Liping)
;
Hu TD (Hu Tiandou)
;
Wang HH (Wang Huanhua)
收藏
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浏览/下载:49/0
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提交时间:2010/04/11
in doping
cracks
Si(111) substrate
LT-AlGaN interlayer
metalorganic chemical vapor deposition
GaN
PHASE EPITAXY
INDIUM-SURFACTANT
OPTICAL-PROPERTIES
SI(111)
STRESS
FILMS
Method for measurement of lattice parameter of cubic GaN layers on GaAs (001)
期刊论文
journal of crystal growth, 2003, 卷号: 250, 期号: 3-4, 页码: 345-348
Zheng XH
;
Wang YT
;
Feng ZH
;
Yang H
;
Chen H
;
Zhou JM
;
Liang JW
收藏
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浏览/下载:39/0
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提交时间:2010/08/12
in-plane strain
lattice parameters
triple-axis diffraction
c-GaN
GROWTH
FILMS
Structure and optical properties of self-assembled InAs/GaAs quantum dots with In0.15Ga0.85As underlying layer
期刊论文
journal of crystal growth, 2002, 卷号: 240, 期号: 3-4, 页码: 395-400
作者:
Xu B
;
Ye XL
收藏
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浏览/下载:63/0
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提交时间:2010/08/12
photoluminescence
molecular beam epitaxy
nanomaterials
quantum dots
semiconducting III-V materials
1.3 MU-M
TEMPERATURE-DEPENDENCE
EXCITED-STATES
INXGA1-XAS
GROWTH
LASERS
INP
Defects and morphologies in In0.8Ga0.2As/InAlAs/InP(001) for high electron-mobility transistors
期刊论文
defects and diffusion in semiconductors, 2000, 卷号: 183-1, 期号: 0, 页码: 147-152
Wu J
;
Lin F
收藏
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浏览/下载:53/0
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提交时间:2010/08/12
In0.8Ga0.2As/InAlAs/InP
misfit dislocations
surface morphology
GROWTH
RELAXATION
SUBSTRATE
CIRCUITS
Structural characterization of InGaAs/GaAs quantum dots superlattice infrared photodetector structures
期刊论文
journal of crystal growth, 1999, 卷号: 200, 期号: 3-4, 页码: 375-381
Zhuang QD
;
Li JM
;
Zeng YP
;
Pan L
;
Li HX
;
Kong MY
;
Lin LY
收藏
  |  
浏览/下载:27/0
  |  
提交时间:2010/08/12
InGaAs/GaAs
quantum dots
superlattice
structure
TEM
X-ray
ISLANDS
GROWTH
GAAS
MULTILAYERS
SURFACES
X-RAY-DIFFRACTION
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