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微电子研究所 [18]
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Key technologies for dual high-k and dual metal gate integration
期刊论文
Chinese Physics B, 2018
作者:
Li YL(李永亮)
;
Wang WW(王文武)
;
Xu QX(徐秋霞)
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2019/05/05
Dry Etching of Metal Inserted Poly-Si Stack for Dual High-k and Dual Metal Gate Integration
期刊论文
ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2018
作者:
Wang WW(王文武)
;
jing Zhang
;
Xu QX(徐秋霞)
;
Li YL(李永亮)
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浏览/下载:27/0
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提交时间:2019/05/05
Fabrication Technique for pMOSFET poly-SiTaNTiNHfSiAlON
期刊论文
ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2018
作者:
jing Zhang
;
Wang WW(王文武)
;
Xu QX(徐秋霞)
;
Li YL(李永亮)
收藏
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2019/05/05
System Anslysis and PHM Methods for Power Devices Based on Physics-of-Failure
会议论文
作者:
Gao B(高博)
;
Wang LX(王立新)
;
Zhang YL(张宇隆)
;
Han ZS(韩郑生)
;
Luo JJ(罗家俊)
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2018/07/20
Single-focus spiral zone plates
期刊论文
Optics Letters, 2017
作者:
Hua YL(华一磊)
;
Liang YH(梁永浩)
;
Xie CQ(谢常青)
;
Wang EL(王恩亮)
收藏
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浏览/下载:23/0
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提交时间:2018/07/11
Experimental Study of Single Event Upset and Single Event Latch-up in SOI SRAM
会议论文
作者:
Zhang HY(张宏远)
;
Wang LF(王林飞)
;
Liu HN(刘海南)
;
Chen LK(陈丽坤)
;
Zhou YL(周月琳)
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2017/05/19
Prognostics and Health Management for VDMOS Basedon Physics-of-Failure
会议论文
作者:
Luo JJ(罗家俊)
;
Han ZS(韩郑生)
;
Zhang YL(张宇隆)
;
Wang LL(王路璐)
;
Gao B(高博)
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2017/05/19
Simulation and characterization of stress in FinFETs using novel LKMC and nanobeam diffraction methods
期刊论文
Journal of Semiconductors, 2015
作者:
Wang GL(王桂磊)
;
Guo YL(郭奕栾)
;
Zhao C(赵超)
;
Luo J(罗军)
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2016/05/31
Impact of pattern dependency of SiGe layers grown selectively in source/drain on the performance of 22nm node pMOSFETs
期刊论文
Solid-State Electronics, 2015
作者:
Li JF(李俊峰)
;
Wang GL(王桂磊)
;
Xu YF(徐烨峰)
;
Luo J(罗军)
;
Guo YL(郭奕栾)
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2016/05/31
Effects of carbon pre-germanidation implant into Ge on the thermal stability of NiGe films
期刊论文
Microelectronic engineering, 2015
作者:
Liu QB(刘庆波)
;
Ke XX(柯星星)
;
Guo YL(郭奕栾)
;
Zhao C(赵超)
;
Wang GL(王桂磊)
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2016/05/31
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