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Total dose effects of 28nm FD-SOI CMOS transistors 会议论文
作者:  Kuang Y(匡勇);  Bu JH(卜建辉);  Li B(李博);  Gao LC(高林春);  Liang CP(梁春平)
收藏  |  浏览/下载:26/0  |  提交时间:2019/05/10
A low leakage current Tunneling-FET based on SOI 会议论文
作者:  Bu JH(卜建辉);  Li DL(李多力);  Xu GB(许高博);  Cai XW(蔡小五);  Kuang Y(匡勇)
收藏  |  浏览/下载:35/0  |  提交时间:2019/05/13
Process variation dependence of total ionizing dose effects in bulk nFinFETs 会议论文
作者:  Li B(李博);  Huang YB(黄云波);  L.Yang;  Zhang QZ(张青竹);  Zheng ZS(郑中山)
收藏  |  浏览/下载:46/0  |  提交时间:2019/05/13
Process variation dependence of total ionizing dose effects in bulk nFinFETs 期刊论文
Microelectronics Reliability, 2018
作者:  Zheng ZS(郑中山);  Huang YB(黄云波);  Li B(李博);  Luo JJ(罗家俊);  Han ZS(韩郑生)
收藏  |  浏览/下载:24/0  |  提交时间:2019/03/28
A Simulation Model for the PN Junction Based on SOI 会议论文
作者:  Luo JJ(罗家俊);  Bu JH(卜建辉);  Li Y(李莹);  Han ZS(韩郑生)
收藏  |  浏览/下载:6/0  |  提交时间:2017/05/19
Analysis and optimization of Tunneling-FET based on SOI 会议论文
作者:  Li Y(李莹);  Han ZS(韩郑生);  Luo JJ(罗家俊);  Bu JH(卜建辉)
收藏  |  浏览/下载:10/0  |  提交时间:2017/05/19
Effect of Cryogenic Temperature Characteristic on 0.18μm Silicon-on-insulator Devices 期刊论文
Chinese Physics B, 2016
作者:  Li BH(李彬鸿);  Luo JJ(罗家俊);  Li B(李博);  Bi JS(毕津顺);  Bu JH(卜建辉)
收藏  |  浏览/下载:13/0  |  提交时间:2017/05/08
Damage free removal of nano-particles with DUAL-FLUID spray nozzle cleaning 会议论文
作者:  He XB(贺晓彬);  Li JJ(李俊杰);  Han JH(韩江浩);  Jiang QF(姜齐风);  Zhao C(赵超)
收藏  |  浏览/下载:15/0  |  提交时间:2017/05/19
A Simulation Model for PDSOI MOSFETs 会议论文
作者:  Li Y(李莹);  Luo JJ(罗家俊);  Han ZS(韩郑生);  Bu JH(卜建辉)
收藏  |  浏览/下载:10/0  |  提交时间:2015/05/07
The STI stress effect on deep submicron PDSOI MOSFETs 期刊论文
Journal of Semiconductors, 2014, 卷号: 35, 期号: 3, 页码: 034008-1
作者:  Luo JJ(罗家俊);  Bu JH(卜建辉);  Li SZ(李书振);  Han ZS(韩郑生)
收藏  |  浏览/下载:9/0  |  提交时间:2015/04/10


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