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科研机构
微电子研究所 [10]
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会议论文 [7]
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2018 [4]
2016 [4]
2014 [2]
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Total dose effects of 28nm FD-SOI CMOS transistors
会议论文
作者:
Kuang Y(匡勇)
;
Bu JH(卜建辉)
;
Li B(李博)
;
Gao LC(高林春)
;
Liang CP(梁春平)
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浏览/下载:26/0
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提交时间:2019/05/10
A low leakage current Tunneling-FET based on SOI
会议论文
作者:
Bu JH(卜建辉)
;
Li DL(李多力)
;
Xu GB(许高博)
;
Cai XW(蔡小五)
;
Kuang Y(匡勇)
收藏
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浏览/下载:35/0
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提交时间:2019/05/13
Process variation dependence of total ionizing dose effects in bulk nFinFETs
会议论文
作者:
Li B(李博)
;
Huang YB(黄云波)
;
L.Yang
;
Zhang QZ(张青竹)
;
Zheng ZS(郑中山)
收藏
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浏览/下载:46/0
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提交时间:2019/05/13
Process variation dependence of total ionizing dose effects in bulk nFinFETs
期刊论文
Microelectronics Reliability, 2018
作者:
Zheng ZS(郑中山)
;
Huang YB(黄云波)
;
Li B(李博)
;
Luo JJ(罗家俊)
;
Han ZS(韩郑生)
收藏
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浏览/下载:24/0
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提交时间:2019/03/28
A Simulation Model for the PN Junction Based on SOI
会议论文
作者:
Luo JJ(罗家俊)
;
Bu JH(卜建辉)
;
Li Y(李莹)
;
Han ZS(韩郑生)
收藏
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2017/05/19
Analysis and optimization of Tunneling-FET based on SOI
会议论文
作者:
Li Y(李莹)
;
Han ZS(韩郑生)
;
Luo JJ(罗家俊)
;
Bu JH(卜建辉)
收藏
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2017/05/19
Effect of Cryogenic Temperature Characteristic on 0.18μm Silicon-on-insulator Devices
期刊论文
Chinese Physics B, 2016
作者:
Li BH(李彬鸿)
;
Luo JJ(罗家俊)
;
Li B(李博)
;
Bi JS(毕津顺)
;
Bu JH(卜建辉)
收藏
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2017/05/08
Damage free removal of nano-particles with DUAL-FLUID spray nozzle cleaning
会议论文
作者:
He XB(贺晓彬)
;
Li JJ(李俊杰)
;
Han JH(韩江浩)
;
Jiang QF(姜齐风)
;
Zhao C(赵超)
收藏
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2017/05/19
A Simulation Model for PDSOI MOSFETs
会议论文
作者:
Li Y(李莹)
;
Luo JJ(罗家俊)
;
Han ZS(韩郑生)
;
Bu JH(卜建辉)
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2015/05/07
The STI stress effect on deep submicron PDSOI MOSFETs
期刊论文
Journal of Semiconductors, 2014, 卷号: 35, 期号: 3, 页码: 034008-1
作者:
Luo JJ(罗家俊)
;
Bu JH(卜建辉)
;
Li SZ(李书振)
;
Han ZS(韩郑生)
收藏
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2015/04/10
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