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Investigation of the relationship between the total dose effect and thickness of Al2O3 gate dielectric under gamma-ray irradiation 会议论文
作者:  Li DL(李多力);  Zhu HP(朱慧平);  Chen X(陈曦);  Zheng ZS(郑中山);  Li B(李博)
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Radiation Effects on Al2O3 Thin Films 会议论文
作者:  Zhu HP(朱慧平);  Chen X(陈曦);  Zheng ZS(郑中山);  Li DL(李多力);  Gao JT(高见头)
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Process variation dependence of total ionizing dose effects in bulk nFinFETs 会议论文
作者:  Li B(李博);  Huang YB(黄云波);  L.Yang;  Zhang QZ(张青竹);  Zheng ZS(郑中山)
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