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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2019    专题：上海大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Measurement and evaluation of the defects in Cd1-xZnxTe materials by observing their etch pits in real time 期刊论文 JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH, 2019, 卷号: 506, 页码: 1-7 作者:  Yu, H. X.[1];  Yang, J. R.[2];  Zhang, J. J.[3];  Xu, C.[4];  Sun, S. W.[5] 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2019/04/22 Defects  Etching  Line defects  Volume defects  Semiconducting II-VI materials