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Paramagnetic effect tuned by magnetic pinning in YBa2Cu3O7-delta/La0.67Sr0.33MnO3 heterostructures 期刊论文
EPL, 2010, 卷号: 89, 期号: 3, 页码: -37005
Chen, CZ; Cai, CB; Peng, L; Liu, ZY; Lu, YM; Wang, HW; Xie, XM
收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2012/03/24
星载计算机可靠性和低功耗的均衡优化研究 期刊论文
宇航学报, 2009, 期号: 05
张小林; 杨根庆; 李华旺; 张宇宁
收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2012/01/06
Local anodic oxidation of superconducting NbN thin films by an atomic force microscope 期刊论文
SUPERCONDUCTOR SCIENCE & TECHNOLOGY, 2009, 卷号: 22, 期号: 12, 页码: 125027-125027
Yang, XY; You, LX; Wang, X; Zhang, LB; Kang, L; Wu, PH
收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2012/03/24
Many-body effects on terahertz quantum well detectors 期刊论文
APPLIED PHYSICS LETTERS, 2009, 卷号: 94, 期号: 20, 页码: 201101-201101
Guo, XG; Tan, ZY; Cao, JC; Liu, HC
收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2011/11/03
Stress current calculation of stacked dielectrics in time dependent dielectric breakdown 期刊论文
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2003, 卷号: 94, 期号: 6, 页码: 4032-4035
Yang, WW; Cheng, XH; Xing, YM; Li, WJ; Yu, YH
收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2012/03/24
SIMOX SOI材料红外光学以及电学性能研究 学位论文
博士: 中国科学院研究生院（上海微系统与信息技术研究所）  , 2003
陈可炜  
收藏  |  浏览/下载：44/0  |  提交时间：2012/03/06
Microstructure, magnetization and dc transport properties of MTG-YBa1.8 Na0.2Cu3Oy crystal 期刊论文
SUPERCONDUCTOR SCIENCE & TECHNOLOGY, 2001, 卷号: 14, 期号: 7, 页码: 511-516
Wang, ZH; Zou, XW; Fang, J; Yang, T; Xu, XN; Wu, XF; Luo, H; Huang, Z; Chen, JL; Qiu, L; Ding, SY; Zhang, H; Yao, XX
收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2012/03/24
Growth of biaxially textured yttria-stabilized zirconia thin films on Si(111) substrate by ion beam assisted deposition 期刊论文
CHINESE PHYSICS LETTERS, 2000, 卷号: 17, 期号: 3, 页码: 221-223
Mu,HC; Ren,CX; Jiang,BY; Ding,XZ; Yu,YH; Wang,X; Liu,XH; Zhou,GE; Jia,YB
收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2012/03/24
Effective activation energy U-e(T, J, H) in textured Bi1.84Pb0.4Sr2Ca3Cu3Oy silver-clamped thick films 期刊论文
PHYSICA C-SUPERCONDUCTIVITY AND ITS APPLICATIONS, 1999, 卷号: 320, 期号: 3-4, 页码: 218-224
Wang, ZH; Zhang, H
收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2012/03/25
Observation of DC currents induced in MOS capacitors during NBTS aging 期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 1997, 卷号: 37, 期号: 1, 页码: 171-177
Lu, DR; Li, BQ
收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2012/03/25

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