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科研机构
微电子研究所 [5]
内容类型
会议论文 [5]
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2017 [1]
2016 [2]
2015 [2]
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内容类型:会议论文
专题:微电子研究所
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System Anslysis and PHM Methods for Power Devices Based on Physics-of-Failure
会议论文
作者:
Gao B(高博)
;
Wang LX(王立新)
;
Zhang YL(张宇隆)
;
Han ZS(韩郑生)
;
Luo JJ(罗家俊)
收藏
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2018/07/20
Prognostics and Health Management for VDMOS Basedon Physics-of-Failure
会议论文
作者:
Luo JJ(罗家俊)
;
Han ZS(韩郑生)
;
Zhang YL(张宇隆)
;
Wang LL(王路璐)
;
Gao B(高博)
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2017/05/19
Failure Analysis of the VDMOS Device with VSD and RDS (on) Exceeded Limit Based on Reliability Physics
会议论文
作者:
Li Q(李庆)
;
Gao B(高博)
;
Deng HT(邓海涛)
;
Wang LX(王立新)
;
Luo JJ(罗家俊)
收藏
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2017/05/19
A guided-mode resonance based wideband reflector at visible wavelengths
会议论文
作者:
Xie CQ(谢常青)
;
Niu JB(牛洁斌)
;
Li HL(李海亮)
;
Liu Y(刘宇)
;
Shi LN(史丽娜)
收藏
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2016/06/14
Impact of P/E Cycling on Read Current Fluctuation of NOR Flash Memory Cell: A Microscopic Perspective Based on Low Frequency Noise Analysis
会议论文
作者:
Zheng ZW(郑志威)
;
Yang XN(杨潇楠)
;
Liu J(刘璟)
;
Wang Y(王艳)
;
Jiang DD(姜丹丹)
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2016/06/14
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