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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 限定条件 学科主题：光学薄膜     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Mo／Si软X射线多层膜的界面粗糙度研究 期刊论文 强激光与粒子束, 2007, 卷号: 19, 期号: 5, 页码: 763, 766 秦俊岭; 邵建达; 易葵; 周洪军; 霍同林; 范正修 收藏  |  浏览/下载：820/182  |  提交时间：2009/09/22 Mo／Si多层膜  Atomic force microscopy  软X射线  Magnetron sputtering  界面粗糙度  Surface roughness  反射率  X ray diffraction   沉积温度对LaF3薄膜性能的影响 期刊论文 强激光与粒子束, 2007, 卷号: 19, 期号: 9, 页码: 1507, 1511 余华; 崔云; 申雁鸣; 齐红基; 邵建达; 范正修 收藏  |  浏览/下载：1098/222  |  提交时间：2009/09/22 Crystal structure  Deposition  Grain size and shape  Interferometers  Lanthanum compounds  Refractive index  Residual stresses  Spectrophotometers  Temperature  X ray diffraction   制备工艺条件对薄膜微结构的影响 期刊论文 中国激光, 2006, 卷号: 33, 期号: 5, 页码: 673, 678 田光磊; 申雁鸣; 沈健; 邵建达; 范正修 收藏  |  浏览/下载：817/83  |  提交时间：2009/09/22 薄膜  X射线衍射  晶相结构  迁移率  扩散激活能   沉积温度对HfO2薄膜残余应力的影响 期刊论文 强激光与粒子束, 2005, 卷号: 17, 期号: 12, 页码: 1812, 1816 申雁鸣; 贺洪波; 邵淑英; 范正修; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：566/107  |  提交时间：2009/09/22 HfO2薄膜  HfO2 films  残余应力  Residual stress  沉积温度  Deposition temperature  微结构  Microstructure  X射线衍射  XRD   退火对ZrO2薄膜微结构及激光损伤阈值的影响 期刊论文 强激光与粒子束, 2005, 卷号: 17, 期号: 2, 页码: 217, 221 田光磊; 黄建兵; 贺洪波; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：635/158  |  提交时间：2009/09/22 退火  Annealing  ZrO2薄膜  ZrO2 coatings  激光损伤阈值  Laser-induced damage threshold  X射线衍射  XRD  弱吸收  Weak absorption